- •Оптоэлектронные первичные преобразователи на базе световодной техники введение
- •1. Краткий исторический обзор
- •2. Физические основы оптоэлектронных преобразователей
- •2.1. Термины и определения
- •2.2. Поглощение оптического излучения
- •2.3. Принцип действия оптоэлектронных преобразователей
- •2.4. Преобразования входной физической величины в оэп
- •2.5. Параметры оэп
- •3. Элементная база оптоэлектронных приборов и устройств
- •3.1. Световоды
- •3.2. Оптоэлектронные источники излучения
- •3.2.1. Излучающие диоды
- •3.2.2. Лазеры
- •3.2.3. Другие источники свечения.
- •3.3. Оптоэлектронные приемники излучения
- •3.4. Типовые оптоэлектронные приборы
- •4. Виды оптоэлектронных преобразователей
- •4.1. Оптоэлектронные преобразователи с амплитудной модуляцией
- •4.2. Преобразования входной физической величины
- •4.3. Амплитудные преобразователи физических величин на основе нерегулярных световодов
- •4.3.1. Принципы построения амплитудных световодных оэп
- •4.3.2. Нерегулярности в волоконных световодах и конструкции оэп на их основе
- •4.4. Оэп на основе нарушения полного внутреннего отражения
- •4.4.1. Физические основы метода спектроскопии на основе нпво
- •4.4.2. Особенности метода спектроскопии на основе нпво
- •4.4.3. Сравнение метода спектроскопии нпво с классическими методами отражения и поглощения
- •4.4.4. Датчики на основе нарушения полного внутреннего отражения (пво)
- •4.5. Фазовые оэп
- •4.6. Поляризационные оэп
- •5. Использование плоских световодов при построении оэп
- •5.1. Требования к методической базе для исследования многокомпонентных гетерогенных непрозрачных объектов
- •5.2. Аппаратура для исследования многокомпонентных гетерогенных объектов
- •5.2.1. Устройство для получения характеристик образцов без их разрушения
- •5.2.2. Универсальная приставка мнпво
- •5.2.3. Компенсация изменения глубины проникновения светового потока
- •5.3. Особенности неинвазивного количественного анализа сложных объектов
- •5.4. Методы получения и обработки информации
- •5.4.1. Обработка спектральной информации
- •5.4.2. Фазовый способ анализа
- •5.4.3. Поляризационный анализ
- •5.5. Определение дихроизма полос поглощения
- •5.5.1. Особенности использования линейно поляризованного света, при азимуте поляризации 0º или 90º.
- •5.5.2. Особенности использования линейно поляризованного света, при азимуте поляризации отличного от 0º или 90º.
- •5.6. Регистрация циркулярного дихроизма
- •5.7. Регистрация дисперсии оптического вращения
- •5.8. Определение оптических постоянных
- •5.9. Исследование объектов в сложных средах
- •5.9.1. Особенности получения информации из образцов
- •5.9.2. Особенности исследования объектов в присутствии фона
- •5.9.3. Особенности исследования водных сред в ик диапазоне
- •6. Измерение технологических параметров на базе оэп
- •6.1. Измерение влажности текстильных материалов
- •6.1.1. Метод инфракрасной спектрометрии
- •6.1.2. Измерение влажности текстильных материалов, основанное на методе ик-спектрометрии
- •6.1.3. Источники излучения для ик-влагомеров
- •6.1.4. Классификация ик-влагомеров
- •6.1.5. Обобщенная структурная схема ик-влагомеров
- •Функциональная схема двухволнового однолучевого ик-влагомера
- •6.2. Измеритель влажности волокна в кипах.
- •6.3. Ик оэп расхода волокна в пневмопроводах.
- •6.4. Ик оэп длины ленты в накопителе
- •6.5. Ик оэп линейной плотности ленты
- •6.6. Ик оэп обнаружения швов на движущейся ткани.
- •6.7. Ик оэп переноса уточных нитей в тканях.
- •6.8. Измерение и контроль концентрации и уровня красителей и рабочих растворов
- •6.8.1. Особенности производственного контроля концетрации и уровня красителей и рабочих растворов
- •6.8.2. Методы контроля концентрации рабочих растворов
- •6.8.3. Измерительные устройства для лабораторного и производственного контроля концентрации красителей и рабочих растворов
- •6.8.4. Методы контроля уровня жидких сред
- •6.8.5. Оптоэлектронные пуж без сканирования
- •6.8.6. Методика расчета компенсатора
- •6.9. Исследование и разработка волоконно-оптического датчика температуры с ик-световодом.
- •6.9.1.Функциональная схема датчика температуры с поликристаллическим ик-световодом
- •6.9.2. Расчет параметров волоконно-оптической системы датчика
- •6.9.3. Ввод теплового излучения в волокно при использовании линзы
- •6.9.4. Мощность излучения, вводимого в волокно при произвольном диаметре линзы и волокна
- •6.9.5. Прием излучения от ограниченной площадки через линзу
- •6.9.6. Конструкции стенда для исследования одноканального датчика температуры с поликристаллическим ик-световодом и стенда для испытаний
- •6.9.7. Результаты испытаний одноканального датчика с ик-световодом
- •6.10. Автоматический контроль параметров смешивания натуральных и химических волокон.
- •6.10.1. Анализ известных методов и устройств для контроля параметров смешивания натуральных и химических волокон
- •6.10.2. Оэп для контроля параметров смешивания
- •Литература
- •Заключение
4.4.3. Сравнение метода спектроскопии нпво с классическими методами отражения и поглощения
Составим три вида спектров исследуемого вещества: спектр поглощения, спектр обычного отражения и спектр НПВО.
Спектры поглощения и НПВО характеризуются тем, что как прошедший, так и отраженный (НПВО) свет тем интенсивнее, чем слабее поглощает вещество. В спектре же обычного отражения наблюдается обратное соотношение: отраженный свет тем менее интенсивнее, чем слабее поглощает вещество. И хотя спектр НПВО представляет разновидность спектра отражения, он имеет гораздо больше общего со спектром поглощения, нежели со спектром обычного отражения.
Классические
методы спектроскопии поглощения и
отражения при исследовании объектов,
значение показателя поглощения которых
находится в интервале
встречают серьезные затруднения.
Кроме необходимости измерять толщину тонких пленок в спектроскопии поглощения, необходимо учитывать селективное отражение в полосе, интерференционные эффекты, а также возможную анизотропию в расположении молекул в пленке. Метод НПВО позволяет избавиться от большинства из выше перечисленных трудностей, приводящих к необходимости введения поправок, и, одновременно, дает возможность определить спектральный ход оптических постоянных ( и k).
Метод НПВО дает
наилучшие результаты при исследовании
веществ с показателем поглощения в
пределах
.
Спектры НПВО, полученные для веществ с
k в указанных пределах,
имеют достаточно контрастные полосы и
могут служить для определения оптических
постоянных. При
имеет место эффект, сходный с эффектом
обычного отражения, когда отраженная
интенсивность растет с увеличением k.
Различие в чувствительности метода НПВО и обычного отражения весьма заметно и характерно. Метод НПВО обеспечивает высокую воспроизводимость регистрирующих спектров, тогда как метод пропускания встречает в этом отношении затруднения, связанные с контролем толщины слоев в несколько мкм.
Однако существуют области, в которых спектроскопию НПВО либо вообще не следует использовать, либо нужно применять очень осторожно, четко представляя механизм явления.
Подчеркнем, что спектр НПВО МО отражает лишь его тонкий поверхностный слой, нередко отличающийся по свойствам от материала в объеме.
Следует учитывать возможное коррозионное воздействие образца на измерительный элемент и необходимость периодической замены его из-за повреждения в эксплуатации. Измерительные элементы зачастую дороги, требуется высокое качество их поверхностной обработки.
Поскольку достижимая эффективная толщина даже при большом числе отражений не превышает долей миллиметра, метод НПВО не следует применять для анализа очень слабо поглощающих образцов. Это относится к исследованию газов, опытам по титрованию растворов и т.д., где для спектрального исследования требуется образец в несколько миллиметров.
При отсутствии достаточно хорошего контакта между образцом и измерительным элементом получаемые значения относительной интенсивности полос нельзя считать надежными.
Следует напомнить еще раз, что для количественных измерений целесообразно работать с поляризованным светом.
Несмотря на указанные недостатки, метод НПВО во многих случаях расширил области применения оптической спектроскопии и упростил методику измерений. Области применения оптической спектроскопии значительно расширились благодаря открывшейся возможности получать спектры НПВО объектов без их разрушения.
