- •Оптоэлектронные первичные преобразователи на базе световодной техники введение
- •1. Краткий исторический обзор
- •2. Физические основы оптоэлектронных преобразователей
- •2.1. Термины и определения
- •2.2. Поглощение оптического излучения
- •2.3. Принцип действия оптоэлектронных преобразователей
- •2.4. Преобразования входной физической величины в оэп
- •2.5. Параметры оэп
- •3. Элементная база оптоэлектронных приборов и устройств
- •3.1. Световоды
- •3.2. Оптоэлектронные источники излучения
- •3.2.1. Излучающие диоды
- •3.2.2. Лазеры
- •3.2.3. Другие источники свечения.
- •3.3. Оптоэлектронные приемники излучения
- •3.4. Типовые оптоэлектронные приборы
- •4. Виды оптоэлектронных преобразователей
- •4.1. Оптоэлектронные преобразователи с амплитудной модуляцией
- •4.2. Преобразования входной физической величины
- •4.3. Амплитудные преобразователи физических величин на основе нерегулярных световодов
- •4.3.1. Принципы построения амплитудных световодных оэп
- •4.3.2. Нерегулярности в волоконных световодах и конструкции оэп на их основе
- •4.4. Оэп на основе нарушения полного внутреннего отражения
- •4.4.1. Физические основы метода спектроскопии на основе нпво
- •4.4.2. Особенности метода спектроскопии на основе нпво
- •4.4.3. Сравнение метода спектроскопии нпво с классическими методами отражения и поглощения
- •4.4.4. Датчики на основе нарушения полного внутреннего отражения (пво)
- •4.5. Фазовые оэп
- •4.6. Поляризационные оэп
- •5. Использование плоских световодов при построении оэп
- •5.1. Требования к методической базе для исследования многокомпонентных гетерогенных непрозрачных объектов
- •5.2. Аппаратура для исследования многокомпонентных гетерогенных объектов
- •5.2.1. Устройство для получения характеристик образцов без их разрушения
- •5.2.2. Универсальная приставка мнпво
- •5.2.3. Компенсация изменения глубины проникновения светового потока
- •5.3. Особенности неинвазивного количественного анализа сложных объектов
- •5.4. Методы получения и обработки информации
- •5.4.1. Обработка спектральной информации
- •5.4.2. Фазовый способ анализа
- •5.4.3. Поляризационный анализ
- •5.5. Определение дихроизма полос поглощения
- •5.5.1. Особенности использования линейно поляризованного света, при азимуте поляризации 0º или 90º.
- •5.5.2. Особенности использования линейно поляризованного света, при азимуте поляризации отличного от 0º или 90º.
- •5.6. Регистрация циркулярного дихроизма
- •5.7. Регистрация дисперсии оптического вращения
- •5.8. Определение оптических постоянных
- •5.9. Исследование объектов в сложных средах
- •5.9.1. Особенности получения информации из образцов
- •5.9.2. Особенности исследования объектов в присутствии фона
- •5.9.3. Особенности исследования водных сред в ик диапазоне
- •6. Измерение технологических параметров на базе оэп
- •6.1. Измерение влажности текстильных материалов
- •6.1.1. Метод инфракрасной спектрометрии
- •6.1.2. Измерение влажности текстильных материалов, основанное на методе ик-спектрометрии
- •6.1.3. Источники излучения для ик-влагомеров
- •6.1.4. Классификация ик-влагомеров
- •6.1.5. Обобщенная структурная схема ик-влагомеров
- •Функциональная схема двухволнового однолучевого ик-влагомера
- •6.2. Измеритель влажности волокна в кипах.
- •6.3. Ик оэп расхода волокна в пневмопроводах.
- •6.4. Ик оэп длины ленты в накопителе
- •6.5. Ик оэп линейной плотности ленты
- •6.6. Ик оэп обнаружения швов на движущейся ткани.
- •6.7. Ик оэп переноса уточных нитей в тканях.
- •6.8. Измерение и контроль концентрации и уровня красителей и рабочих растворов
- •6.8.1. Особенности производственного контроля концетрации и уровня красителей и рабочих растворов
- •6.8.2. Методы контроля концентрации рабочих растворов
- •6.8.3. Измерительные устройства для лабораторного и производственного контроля концентрации красителей и рабочих растворов
- •6.8.4. Методы контроля уровня жидких сред
- •6.8.5. Оптоэлектронные пуж без сканирования
- •6.8.6. Методика расчета компенсатора
- •6.9. Исследование и разработка волоконно-оптического датчика температуры с ик-световодом.
- •6.9.1.Функциональная схема датчика температуры с поликристаллическим ик-световодом
- •6.9.2. Расчет параметров волоконно-оптической системы датчика
- •6.9.3. Ввод теплового излучения в волокно при использовании линзы
- •6.9.4. Мощность излучения, вводимого в волокно при произвольном диаметре линзы и волокна
- •6.9.5. Прием излучения от ограниченной площадки через линзу
- •6.9.6. Конструкции стенда для исследования одноканального датчика температуры с поликристаллическим ик-световодом и стенда для испытаний
- •6.9.7. Результаты испытаний одноканального датчика с ик-световодом
- •6.10. Автоматический контроль параметров смешивания натуральных и химических волокон.
- •6.10.1. Анализ известных методов и устройств для контроля параметров смешивания натуральных и химических волокон
- •6.10.2. Оэп для контроля параметров смешивания
- •Литература
- •Заключение
5.9. Исследование объектов в сложных средах
Исследования объектов в присутствии различных примесей представляют большой практический интерес, связанный с решением аналитических задач.
Наибольший интерес, с нашей точки зрения, может вызвать исследование методических возможностей при анализе биообъектов, когда их полосы поглощения перекрываются с полосами поглощения среды, где находятся анализируемые объекты. Отметим еще раз, что решение подобной проблемы может, вероятно, проходить через решение значительного количества частных вопросов. Перспективу именно такой позиции попытаемся продемонстрировать на конкретных экспериментальных примерах последующих двух глав.
На основании исследований, результаты которых представлены в данной главе, разработаны и предложены конкретные методики количественных измерений, проведенных с объектами, находящимися в различных средах.
5.9.1. Особенности получения информации из образцов
Нативные клетки, как правило, представляют собой сильно рассеивающие объекты, для анализа которых традиционные методы абсорбционного спектрального анализа, разработанные для исследования однородных веществ, оказываются малопригодными. Методы спектроскопии внутреннего отражения дополнительно к возможностям абсорбционной спектроскопии позволяют производить исследования сильно рассеивающих объектов, изучать кинетику процессов, проводить анализ объектов по слоям на разных глубинах, отстоящих от границы раздела двух сред и т.д. Все это делает методы НПВО весьма перспективными для решения широкого круга задач.
Теория спектроскопии НПВО доказывает возможность проведения спектрального анализа различных веществ (в том числе и рассеивающих свет) на разной глубине проникновения светового потока в исследуемый объект. Однако для многокомпонентных сложных гетерогенных светорассеивающих систем возникает вопрос о возможности применения данного спектрального метода к анализу тех или иных объектов в разных их слоях. Поскольку последнее положение является принципиальным, необходимо практически проверить это.
Сформулируем предварительно условия, выполнение которых гарантирует возможность получения спектральной информации с разных глубин («слоев», «срезов») проникновения светового потока в объект: 1) появление в спектрах, полученных с разных глубин, новых полос поглощения или исчезновение ранее обнаруженных полос; 2) если различаются концентрации химических компонентов в разных структурах объекта, то на разных глубинах должно изменяться соотношение полос поглощения, характеризующих эти компоненты; 3) определение дихроичных отношений на разных глубинах.
Выполнение одного из указанных условий достаточно для доказательства того, что информация поступает из различных глубин проникновения светового потока в клетку. Наиболее убедительным доказательством служит реализация всех трех условий.
Кроме того, ошибки могут возникать за счет неточной установки угла поворота поляризатора, неточной установки измерительного элемента. Поэтому была проведена экспериментальная проверка повторяемости результатов и их статистическая обработка.
При записи спектров в поляризованном свете выбираем θ = 45º, так как для этого угла падения светового потока в случае изотропного распределения молекул dэф2 / dэф1 = 2 (dэф2 и dэф1 – эффективные толщины исследуемого образца для параллельной и перпендикулярной компонент плоскополяризованного света соответственно). Оценка эффективной толщины может быть проведена по оптической плотности, которая связана с dэф зависимостью D = ln R = α N dэф, где R – коэффициент отражения, измеряемый в опыте. Любое отклонение этого значения от dэф2 / dэф1 = 2 характеризует преимущественную ориентацию образца относительно плоскости падения светового потока. Эти рассуждения справедливы при условии, что коэффициент поглощения образца < 0,1 и θ > θкр. При исследовании данных объектов указанные требования являются завышенными, поэтому можно вести даже сильных амидных полос.
