- •Оптоэлектронные первичные преобразователи на базе световодной техники введение
- •1. Краткий исторический обзор
- •2. Физические основы оптоэлектронных преобразователей
- •2.1. Термины и определения
- •2.2. Поглощение оптического излучения
- •2.3. Принцип действия оптоэлектронных преобразователей
- •2.4. Преобразования входной физической величины в оэп
- •2.5. Параметры оэп
- •3. Элементная база оптоэлектронных приборов и устройств
- •3.1. Световоды
- •3.2. Оптоэлектронные источники излучения
- •3.2.1. Излучающие диоды
- •3.2.2. Лазеры
- •3.2.3. Другие источники свечения.
- •3.3. Оптоэлектронные приемники излучения
- •3.4. Типовые оптоэлектронные приборы
- •4. Виды оптоэлектронных преобразователей
- •4.1. Оптоэлектронные преобразователи с амплитудной модуляцией
- •4.2. Преобразования входной физической величины
- •4.3. Амплитудные преобразователи физических величин на основе нерегулярных световодов
- •4.3.1. Принципы построения амплитудных световодных оэп
- •4.3.2. Нерегулярности в волоконных световодах и конструкции оэп на их основе
- •4.4. Оэп на основе нарушения полного внутреннего отражения
- •4.4.1. Физические основы метода спектроскопии на основе нпво
- •4.4.2. Особенности метода спектроскопии на основе нпво
- •4.4.3. Сравнение метода спектроскопии нпво с классическими методами отражения и поглощения
- •4.4.4. Датчики на основе нарушения полного внутреннего отражения (пво)
- •4.5. Фазовые оэп
- •4.6. Поляризационные оэп
- •5. Использование плоских световодов при построении оэп
- •5.1. Требования к методической базе для исследования многокомпонентных гетерогенных непрозрачных объектов
- •5.2. Аппаратура для исследования многокомпонентных гетерогенных объектов
- •5.2.1. Устройство для получения характеристик образцов без их разрушения
- •5.2.2. Универсальная приставка мнпво
- •5.2.3. Компенсация изменения глубины проникновения светового потока
- •5.3. Особенности неинвазивного количественного анализа сложных объектов
- •5.4. Методы получения и обработки информации
- •5.4.1. Обработка спектральной информации
- •5.4.2. Фазовый способ анализа
- •5.4.3. Поляризационный анализ
- •5.5. Определение дихроизма полос поглощения
- •5.5.1. Особенности использования линейно поляризованного света, при азимуте поляризации 0º или 90º.
- •5.5.2. Особенности использования линейно поляризованного света, при азимуте поляризации отличного от 0º или 90º.
- •5.6. Регистрация циркулярного дихроизма
- •5.7. Регистрация дисперсии оптического вращения
- •5.8. Определение оптических постоянных
- •5.9. Исследование объектов в сложных средах
- •5.9.1. Особенности получения информации из образцов
- •5.9.2. Особенности исследования объектов в присутствии фона
- •5.9.3. Особенности исследования водных сред в ик диапазоне
- •6. Измерение технологических параметров на базе оэп
- •6.1. Измерение влажности текстильных материалов
- •6.1.1. Метод инфракрасной спектрометрии
- •6.1.2. Измерение влажности текстильных материалов, основанное на методе ик-спектрометрии
- •6.1.3. Источники излучения для ик-влагомеров
- •6.1.4. Классификация ик-влагомеров
- •6.1.5. Обобщенная структурная схема ик-влагомеров
- •Функциональная схема двухволнового однолучевого ик-влагомера
- •6.2. Измеритель влажности волокна в кипах.
- •6.3. Ик оэп расхода волокна в пневмопроводах.
- •6.4. Ик оэп длины ленты в накопителе
- •6.5. Ик оэп линейной плотности ленты
- •6.6. Ик оэп обнаружения швов на движущейся ткани.
- •6.7. Ик оэп переноса уточных нитей в тканях.
- •6.8. Измерение и контроль концентрации и уровня красителей и рабочих растворов
- •6.8.1. Особенности производственного контроля концетрации и уровня красителей и рабочих растворов
- •6.8.2. Методы контроля концентрации рабочих растворов
- •6.8.3. Измерительные устройства для лабораторного и производственного контроля концентрации красителей и рабочих растворов
- •6.8.4. Методы контроля уровня жидких сред
- •6.8.5. Оптоэлектронные пуж без сканирования
- •6.8.6. Методика расчета компенсатора
- •6.9. Исследование и разработка волоконно-оптического датчика температуры с ик-световодом.
- •6.9.1.Функциональная схема датчика температуры с поликристаллическим ик-световодом
- •6.9.2. Расчет параметров волоконно-оптической системы датчика
- •6.9.3. Ввод теплового излучения в волокно при использовании линзы
- •6.9.4. Мощность излучения, вводимого в волокно при произвольном диаметре линзы и волокна
- •6.9.5. Прием излучения от ограниченной площадки через линзу
- •6.9.6. Конструкции стенда для исследования одноканального датчика температуры с поликристаллическим ик-световодом и стенда для испытаний
- •6.9.7. Результаты испытаний одноканального датчика с ик-световодом
- •6.10. Автоматический контроль параметров смешивания натуральных и химических волокон.
- •6.10.1. Анализ известных методов и устройств для контроля параметров смешивания натуральных и химических волокон
- •6.10.2. Оэп для контроля параметров смешивания
- •Литература
- •Заключение
5.5. Определение дихроизма полос поглощения
5.5.1. Особенности использования линейно поляризованного света, при азимуте поляризации 0º или 90º.
Известно, что интенсивность полос поглощения МНПВО при оптимальном выборе условий получения спектров, определяемая экспериментально, связана с количеством исследуемого вещества следующим соотношением:
–ln R = αNdэф = εCNdэф (5.23)
где α – показатель поглощения вещества, см-1;
ε – молярный коэффициент поглощения вещества в прозрачном растворителе, л/см·моль;
С – концентрация, моль/л;
R – коэффициент отражения, измеряемый в опыте;
dэф – эффективная толщина исследуемого образца, см;
N – число отражений.
В свою очередь, эффективная толщина зависит от возмущения амплитуды электрического поля на границе раздела сред с различными показателями преломления. Для массивного образца, толщина которого намного больше глубины проникновения затухающего поля, в случае плоскополяризованного света для перпендикулярной и параллельной компонент имеем соответственно:
dэф1 = 2dр cosθ/(1 – n21), (5.24)
dэф2 = dэф1{(2sin2θ – n21)/[(1 + n21)sin2θ – n21]}dр, (5.25)
где n21 = n2 /n1 – относительный показатель преломления,
n2 – показатель преломления вещества (в случае поглощения показатели преломления и поглощения связаны следующей зависимостью n2 = n1 – ik2),
n1 – показатель преломления материала элемента МНПВО,
θ – угол падения,
dр – глубина проникновения затухающего поля.
Изучение ориентации молекул отдельных компонентов микроорганизмов на поверхности ИЭ может быть выполнено путем анализа интенсивности полос поглощения в спектре МНПВО, полученном при разной поляризации плоскополяризованного света для какого-нибудь из углов θ. Наиболее удобно выполнить этот анализ для θ = 45º, так как при этом в случае изотропного рапределения молекул 2dэф1 = dэф2, а среднее значение dэф = (4 dэф1 + dэф2)/2 примерно равно dр.
Оценка dэф1,2 может быть проведена также по оптической плотности образцов из выражения:
D1,2 = –lgRn1,2 = α N dэф1,2 (5.26)
Отсюда следует вывод, что по изменению оптической плотности D1,2 можно судить об изменениях эффективной толщины dэф1,2 при разных направлениях поляризации источника излучения.
Перед проведением опыта необходимо было убедиться, что для выбранных экспериментальных условий выполняется последнее выражение. Использование этого выражения значительно облегчает аналитическую часть работы, т.к. позволяет воспользоваться линейной зависимостью D от величины dэф.
Для более точной юстировки ИЭ под углом θ = 45º, кроме оптической юстировки, проверялось выполнение соотношения для изотропного образца для параллельной и перпендикулярной компонент электромагнитного поля световой волны R12 = R2.
В качестве поляризатора в ИК области использовался пленочный реплика-поляризатор на основе полиэтилена с 1200 штрихов/мм; степень поляризации составляла 96%; пропускание поляризатора 44%. Был произведен учет неполной поляризации света поляризатором.
При работе в режиме ТП световой поток пронизывает три среды: материал ИЭ с показателем преломления n1, исследуемый объект с показателем преломления n2, и среду за исследуемым объектом с показателем преломления n3. Измерения могут быть выполнены и в том случае, когда n1 < n3.
В спектрофотометрии МНПВО для плоскополяризованного света при углах падения θ > θкр выражения для dэф в случае тонкой пленки [(2πd / λ1) < 0,1 и k2 < 0,1] записываются в виде:
dэф1 = 4n21 d cosθ/(1 – n312) (5.27)
dэф2 = {4n21dcosθ[(1 – n232/2)sin2θ – n312)]}/{(1 – n312)[(1 + n312)sin2θ – n312]}, (5.28)
где d – геометрическая толщина пленки;
n21, n31, n32 – относительные показатели преломления;
n1, n2, n3 – показатели преломления ИЭ, исследуемого объекта и воздуха соответственно.
Значение dэф может в несколько раз превышать геометрическую толщину. Однако важно подчеркнуть, что при использовании спектроскопии МНПВО контраст спектра зависит не столько от dэф, сколько от произведения ε·dэф. Поскольку получаемая из опыта величина ε зависит от оптических свойств среды, в которой «растворена» исследуемая молекула, то интенсивность полос в спектре МНПВО будет зависеть от изменения показателя преломления в различных «срезах» (точках) образца. Подобный эффект влияния среды на молекулу известен в спектроскопии растворов.
Из представленных выражений следует, что в случае работы с тонкой пленкой величина dэф2, может быть как больше, так и меньше dэф1, в зависимости от того, будет ли отношение n322/ n312 1, соответственно. Это условие накладывает определенные требования на выбор материала ИЭ, поскольку в режиме ТП можно получить практически любой эффект, который можно отнести к дихроизму даже в случае его отсутствия.
Для эксперимента были использованы измерительные элементы, выполненные из Ge, инфракрасного стекла ИКС-25, AgCl и из PbF2. При использовании первых двух ИЭ выполняется соотношение n322/ n312 > 1, а при использовании других двух – выполняется соотношение n322/ n312 < 1.
Полученные экспериментальные результаты показывают, что когда представленное отношение меньше 1 формулы для dэф, полученные для слабопоглощающих объектов, лучше соответствуют полученным результатам, чем при выполнении другого условия. Данные, полученные с помощью элементов из AgCl и PbF2 отличаются друг от друга примерно на 3%, причем отклонение от значений, вычисленных по аппроксимированным формулам для элемента из PbF2 составило около 5%, а для измерений на элементе из AgCl – 8%. Результаты, полученные с помощью элементов из Ge и ИКС-25 отличаются примерно на 10%, причем отклонение от значений, вычисленных по аппроксимированным формулам для измерений на элементе из инфракрасного стекла ИКС-25 составило около 20%, а для измерений, выполненных на элементе из германия – 30%. Такое расхождение полученных результатов относительно результатов, вычисленных по формулам (5.27) и (5.28), можно объяснить трудностью получения идеального режима тонкой пленки в случае анализа неразрушенных волокон.
На практике может представиться, что объекты на рабочей поверхности ИЭ будут располагаться дискретно и в виде монослоя. Чтобы учесть возможность такого расположения объектов при количественных измерениях, следует выяснить, какому режиму работы (с МО или с ТП) будут соответствовать полученные результаты.
Запись спектров производилась с использованием ИЭ, которые применялись для работы с ТП и с использованием элементов из Ge и ИКС-24, которые были использованы для работы с МО. Для получения поляризованного света были использованы те же поляризаторы, что и в предыдущих экспериментах.
На основании полученных экспериментальных данных были вычислены отношения оптических плотностей для перпендикулярной и параллельной компонент плоскополяризованного света при угле падения 45º. Полученные отношения оптических плотностей при записи спектров на определенном измерительном элементе соответствуют отношениям оптических плотностей (при записи спектров на этом же элементе) в режиме МО или ТП. Следовательно, нарушения режима работы в рассматриваемом случае не наблюдается.
