- •10.2. Принцип Гюйгенса-Френеля [8, с. 333-334]
- •10.3. Метод зон френеля [8, с. 384-386, 407]
- •10.4 Дифракция френеля и дифракция фраунгофера. Критерий их различимости или отсутствия [8, с. 382, 406]
- •Дифракция фраунгофера на одной щели [8, с. 400-407]
- •10.6. Распределение интенсивности света в дифракционном спектре от одной щели [11, с. 229-230]
- •10.7. Дифракционная решётка проходящего света
- •10.8. Условие главных максимумов при наклонном падении света на дифракционную решетку [11, с. 240]
- •10.9. Отражательная дифракционная решетка (эшелетт) [11, с. 244-248]
- •10.10. Дифракционная решетка как спектральный прибор [8, с. 412]
- •Глава 11. Поляризация оптического излучения
- •11.1. Фотон - электронное взаимодействие в диэлектриках [10, с. 42]
- •11.2. "Естественный" или "неп0ляри3ованный" сβετ [4, с. 435]
- •11.3. Поляризация как физическое явление
- •11.4. Двойное лучепреломление в анизотропной среде [4, с. 435]
- •11.5. Получение циркулярно-п0ляри3ованного света с
- •11.6. Получение циркулярно-голяризованного света в изотропных средах методами искусственной анизотропии ( эффект керра), [8, стр. 447-449]
- •11.7. Оптически активные вещества [10, стр. 607-618]
- •11.8 Эффект фарадея в веществах с искусственной оптической активностью
- •11.9. Закон малюса
- •Глава 12. Зависимость коэффициента отражения от
- •Глава 13. Волновая и лучевая природа законов отражения и преломления света
- •Законы отражения и преломления света как следствие суперпозиции электромагнитных волн на границе раздела двух диэлектриков
- •Законы отражения и преломления света как следствие принципа ферма
- •Глава 14. Основы лучевой и волновой оптики диэлектрических волноводов
- •14.1. Полное внутреннее отражение [1]
- •14.2. Планарный диэлектрический волновод
- •14.3. Цилиндрический диэлектрический волновод
- •14.3.1. Конструкция цилиндрических диэлектрических волноводов (стекловолокон) и распределение в них профиля абсолютного показателя преломления
- •14.3.2. Номинальная числовая апертура стекловолокна
- •14.3.3. Дискретность углов ввода излучения в стекловолокно
- •14.3.4 . Зависимость интенсивности излучения на выходе стекловолокна от угла падения светового пучка на его входной торец
- •Глава 15. Уширение импульсных сигналов в процессе их распространения по стекловолокну
- •15.1. Распределение гаусса как наиболее типичная форма амплитудно - модулированного оптического сигнала
- •15.2. Внутримодовая волноводная хроматическая «дисперсия» (ввхд)
- •15.3. Внутримодовая материальная хроматическая дисперсия (вмхд)
- •15.4. Хроматическая дисперсия (хд)
- •15.5. Межмодовая (многолучевая) дисперсия в стекловолокнах со ступенчатым распределением профиЛя показателя преломления
- •15.6. Градиентное распределение профиля показателя преломления в стекловолокне как один из способов уменьшения межмодовой дисперсии
- •15.7. Соотношение мужду длительностью гауссовского импульса на входе в стекловолокно и его длительностью на выходе
- •Глава 16. Физическая природа ослабления сигналов в процессе их распространения по стекловолокнам
- •Поглощение света в стекловолокне
- •Потери, связанные с рэлеевским рассеянием света и тепловыми флуктуациями абсолютного показателя преломления стекловолокна
- •Совместное влияние поглощения, рэлеевского рассеяния и примесей на затухание сигнала в стекловолокнах
- •Комбинационное рассеяние света (эффект рамана-кришнана-ландсберга-мандельштама)
- •Рассеяние света на макроскопических дефектах
- •Потери, связанные с изгибом стекловолокон
- •Потери за счет полного внутреннего отражения
- •Термо-механические потери
- •Закон бугера-ламберта, коэффициент поглощения, коэффициент пропускания и оптическая плотность
- •Коэффициент затухания передаваемого сигнала в децибелах и его взаимосвязь с оптической плотностью
- •Глава 17. Основы фотометрии [10, с 49-61]; [8, с 327]
- •Энергетические и фотометрические характеристики оптического излучения
- •17.2. Функция видности и ее зависимость от длины электромагнитной волны
- •17.3. Телесный угол, световой поток и механический эквивалент света
- •17.4. Сила света
- •Освещенность поверхности
- •17.6. Закон освещенности
- •17.7. Светимость излучающей поверхности конечных размеров
- •17.8. Яркость светящейся поверхности
- •Справочные данные по основным фотометрическим понятиям
Глава 16. Физическая природа ослабления сигналов в процессе их распространения по стекловолокнам
ВВЕДЕНИЕ
В процессе распространения импульса света по стекловолокну его искажения обусловлены двумя основными причинами: уменьшением амплитуды и увеличением длительности.
В
настоящем разделе рассматриваются
основные физические процессы,
вызывающие уменьшение амплитуды импульса
Затухание сигнала обусловлено двумя основными причинами: поглощением света валентными электронами стекловолокна и рассеянием фотонов на микронеоднородностях, фононах и макроскопических дефектах.
Поглощение света в стекловолокне
В
основе процесса распространения света
в любом диэлектрике лежит
фотон-электронное взаимодействие.
Валентный электрон, поглотив фотон,
частоты
,
переходит
на более высокий энергетический
уровень. Возвращаясь в исходное состояние,
электрон испускает вторичный фотон той
же частоты
.
Такой процесс повторяется многократно
и энергия электромагнитного поля
постепенно передаётся от одного узла
структуры к другому до тех пор, пока
волна не покинет пределов диэлектрика.
Поскольку на трансформацию энергии
уходит определенное время, скорость
распространения волны в диэлектрике
уменьшается по сравнению с её скоростью
в вакууме
в
раз
,
где
- абсолютный
показатель преломления.
Отдельные фотоны поглощаются узлами кристаллической структуры и их энергия переходит в энергию фононов (тепловых колебаний ионов в узлах). Такой процесс не сопровождается генерацией вторичных фотонов и является одной из причин связанных с поглощением света диэлектриком.
Поглощение света резко возрастает на частотах
где
- собственная
циклическая частота колебаний валентного
электрона диэлектрика, а
-
его
коэффициент затухания.
Наиболее полную информацию о поглощении света диэлектриком можно получить из зависимости его абсолютного показателя преломления ( ) от частоты ( ).Для диэлектриков с единственным валентным электроном в узле структуры, эта зависимость имеет вид (раздел 9.2):
, (16.1)
где
- объемная
плотность связанных зарядов диэлектрика,
- заряд электрона,
- его масса,
-
электрическая постоянная.
Если валентных электронов ,
, (16.2)
Формулы (16.1) и (16.2) являются следствием из электронной теории материальной дисперсии .
График
функции (16.2) показан на рисунке 16.1. Из
рисунка 16.1 видно, что в таком диэлектрике
поглощение является резонансным на
частотах
,
соответствующих областям аномальной
дисперсии.
Между
областями аномальной дисперсии
располагаются участки нормальной
дисперсии
,
для которых поглощение значительно
меньше, поскольку
. (16.3)
Частотный диапазон
в таком диэлектрике будет перспективен при изготовлении из него стекловолокон.
С учетом (16.3), формула (16.2) преобразуется к виду:
Рисунок 16.1
. (16.4)
При
переходе от
к
,
получаем
из (16.4):
(16.5)
Как известно, одним из основных материалов используемых для изготовления стекловолокон является плавленым кварц высокой чистоты.
Расчет по формуле (16.5) дает для следующее выражение
,
(16.6)
где - длина световой волны в микронах. Формула (16.6) хорошо согласуется с экспериментальными результатами в интервале длин волн
и носит название дисперсионной формулы Солмейера.
График зависимости , рассчитанный по формуле (16.5), показан на рис.16.2. Участок соответствует аналогичному участку на графике общего вида (рис. 16.1).
Рисунок 16.2
Рисунок 16.3
Известно,
что чистый
практически
не используется для изготовления
стекловолокон. Для изготовления
сердцевины в плавленый кварц
вводят примеси
которые повышают абсолютный показатель
преломления
.
При
создании оболочки, кварц легируют
примесями
и другими, которые понижают значение
абсолютного показателя преломления.
В
результате добиваются требуемого
результата: абсолютный показатель
преломления сердцевины
становится больше чем у оболочки
.
Однако,
введение указанных примесей сужает
диапазон рабочих длин волн
в ИК-диапазоне
,
поскольку любая примесь, вводимая в
имеет собственную полосу резонансного
поглощения. Следует заметить, что
«хвосты» от резонансной кривой поглощения
,
для любой примеси, простираются от
как в сторону
,
так и в сторону
(рис. 16.3).
К
особо опасным примесям следует отнести
гидроксильную группу
,
которая способна внедряться в стекловолокно
в процессе его роста как из расплава,
так и из газовой фазы. Группы
образуются из паров
,
которые всегда находятся в воздухе.
Поглощение,
связанное с группой
,
обусловлено собственным периодом
колебаний ионной
связи
и
и проявляется на длинах волн: 1,39 – 1,24
– 1,13 – 0,95 – 0,88 - 0,72 мкм. Группы
способны вызывать поглощение от 1 дБ/км
и более.
