- •4.4. Оптический метод регистрации ионизирующих излучений
- •4.4.1. Общие характеристики сцинтилляторов
- •Общие свойства сцинтилляторов
- •4.4.2. Основные свойства органических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания органических кристаллов
- •Механизм высвечивания сцинтиллирующих растворов
- •Сместители спектра
- •4.4.3. Основные свойства неорганических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания неорганических кристаллов
- •Газовые сцинтилляторы
- •4.4.4. Сцинтилляционные счетчики устройство и принцип работы фотоумножителя
- •Фотокатод
- •Диноды и коэффициент усиления фэу
- •5. Принцип работы стинтиляционного счетчика
- •Собственный фон умножителя
- •Ложные импульсы
- •Сборка сцинтилляционного счетчика
- •Сбор света
- •Светопроводы
- •4.4.5. Особенности применения сцинтилляционных счетчиков
- •Энергетическое разрешение
- •Регистрация сильноионизирующих короткопробежных частиц
- •.Регистрация электронов
- •Регистрация y-лучей
- •Раздел 4.5. Полупроводниковые детекторы
- •4.5.1. Принцип работы ппд.
- •Образование носителей заряда в полупроводниках под действием заряженных частиц
- •4.5.2. Основные типы ппд Характеристики кремния и германия
- •Свойства примесных германия и кремния
- •Переходы в полупроводниках
- •Ширина обедненной зоны
- •Емкость р-n-перехода
- •Токи утечки через переход
- •Энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа образованных пар носителей
- •Влияние шумов на энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа собранных носителей
- •Временное разрешение
- •Форма импульса,обусловленная парой носителей в р-I- n -детекторе
- •Форма импульса в детекторе с р-n-переходом
- •Форма линии
- •Радиационные повреждения детекторов
- •4.6. Трековые детекторы
- •Камеры Вильсона
- •Камеры непрерывного действия (диффузионные камеры)
- •Пузырьковые камеры
- •Искровая, стримерная и широкозазорная искровые, пропорциональная камеры
- •Кристаллические детекторы Регистрация следов заряженных частиц в диэлектрических средах
- •4.8. Счетчики черенкова
- •Энергетическое разрешение детекторов с фокусировкой
- •Оценка энергетического состава -квантов по функциям пропускания
- •Измерение по продуктам фотоядерных реакций
- •Сцинтилляционный метод
- •Однокристальные сцинтилляционные гамма-спектрометры
- •Полупроводниковая гамма-спектрометрия
- •Спектрометрия цезия–137
- •2.6. Детекторы гамма-излучения
- •1) Сцинтилляционные. 2)Полупроводниковые.
- •Методы обработки гамма-спектров Классический метод обработки спектров гамма-излучения
- •Матричный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров.
- •Генераторный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров
- •5.5.2. Спектрометрия заряженных частиц
- •Определение энергии заряженных частиц по пробегу и плотности ионизации
- •Измерение энергии частиц с помощью ионизационных камер, сцинтилляционных и полупроводниковых счетчиков
- •Измерение энергии тяжелых заряженных частиц
- •Измерение энергии электронов
- •Измерение энергии заряженных частиц с помощью магнитных спектрометров
- •Магнитные спектрометры для b- и a-спектрометрии
- •5.5.2.1. .Методы и средства измерения 90sr
- •1.Некоторые сведения о стронции-90
- •1.2. Стронций-90 в организме человека.
- •1.3. Стронций-90 во внешней среде
- •5.5.2.1.. Методы измерения 90sr
- •2.1. Основные положения
- •2.2 Матричный метод обработки бета-спектров
- •6. Приготовление радиоактивных источников
- •6.1. Типы радиоактивных источников.
- •6.2. Приготовление альфа–бета-источников
- •6.3. Приготовление гамма-источников
- •7. Поверка эталонов и рабочих источников
- •Поверка гамма–источников
5. Принцип работы стинтиляционного счетчика
При работе со сцинтилляционными счетчиками следует, прежде всего, учесть, что момент появления тока в цепи коллектора не совпадает с моментом освещения фотокатода. Этот сдвиг во времени объясняется тем, что электроны, средняя скорость которых в умножителе невелика и не превышает—5х108 см /сек, затрачивают на пролет от фотокатода до коллектора заметное время, составляющее сотые доли микросекунды. Важным обстоятельством является то, что электроны последнего поколения отвечающие одновременному вылету электронов из фотокатода, возникают на последнем диноде не одновременно. Время пролета испытывает значительные отклонения от среднего значения вследствие разброса начальных скоростей электронов вторичной эмиссии по величине и по направлению, а также вследствие различия в длинах их траекторий. В соответствии с этим мгновенной световой вспышке будет отвечать не импульс тока, длительность которого зависит только от времени пролета электронов между последним динодом и коллектором (легко подсчитать, что это время не может превышать 10~10 —10~8 сек), а импульс, растянутый во времени до 10~9—10~8 сек, форма которого определяется условиями пролета электронов в ФЭУ данной конструкции.
При использовании ФЭУ в сцинтилляционном счетчике с неорганическими кристаллами, время высвечивания которых сравнительно велико и составляет десятые доли микросекунды и больше, временные свойства фотоумножителя практически не играют никакой роли и время разрешения сцинтилляционного счетчика будет определяться только временем высвечивания кристалла. При работе с органическими сцинтилляторами и особенно с жидкими и твердыми растворами время разрешения фотоумножителя может оказаться сравнимым с временем высвечивания сцинтиллятора и при расчете разрешающей способности счетчика по времени должно быть учтено.
В экспериментах, требующих особо высокого разрешения по времени, применяют ФЭУ специальной конструкции, время разрешения которых сведено к (1–2)10-10 сек. Улучшение временной характеристики фотоумножителя достигается путем уменьшения расстояния между динодами, придания электродам специальной формы, обеспечивающей изохронность траекторий электронов на отдельных участках (электроны с большими скоростями проходят большие пути, и наоборот), и уменьшения числа каскадов при повышении напряжения между ними.
Собственный фон умножителя
Основной причиной импульсного фона в умножителях термоэлектронная эмиссия с фотокатода и с первого динода. Иногда, при значительном повышении напряжения питания, по отношению к номинальному, на выходе умножителя могут появиться и импульсы фона, связанные с автоэлектронной эмиссией — холодным вырыванием электронов из поверхности электродов в местах образования большого градиента потенциала.
Хотя амплитуды, импульсов собственного фона умножителя должны, в принципе, отвечать вылету из катода или из динода всего лишь одного электрона, вылет нескольких электронов в пределах времени разрешения умножителя (и регистрирующего электронного устройства) обусловит появление импульсов фона с соответственно большими амплитудами.
Если импульсы от световых вспышек, образуемых в сцинтилляторе регистрируемыми частицами, существенно превышают импульсы фона по величине, собственный фон умножителя легко отсекается при помощи обычного амплитудного дискриминатора. В противном случае импульсный фон умножителя должен быть снижен до разумного предела, обеспечивающего возможность проведения физических измерений. Так как вероятность термоэлектронной эмиссии довольно резко зависит от температуры, для уменьшения фона от термоэлектронов рекомендуется понизить температуру фотокатода (при понижении температуры число импульсов от термоэлектронов убывает примерно вдвое на каждые 10° С). Фон же от автоэлектронной эмиссии в фотоумножителях хорошего качества при нормальном режиме эксплуатации практически отсутствует.
Особые трудности возникают при регистрации слабых световых вспышек, вызывающих появление на выходе ФЭУ импульсов, сравнимых по амплитуде с импульсами фона. При этом обычно условия физического эксперимента складываются так, что число световых вспышек, подлежащих регистрации, во много раз меньше числа импульсов фона. В этом случае импульсы от световых вспышек можно выделить из общей массы импульсов, регистрируя каждую световую вспышку в сцинтилляторе с помощью двух фотоумножителей, включенных в схему, выделяющую совпадения импульсов во времени. Схема совпадений зарегистрирует только импульсы от световых вспышек, импульсы же собственного фона умножителей, , схемой не регистрируются.
