- •4.4. Оптический метод регистрации ионизирующих излучений
- •4.4.1. Общие характеристики сцинтилляторов
- •Общие свойства сцинтилляторов
- •4.4.2. Основные свойства органических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания органических кристаллов
- •Механизм высвечивания сцинтиллирующих растворов
- •Сместители спектра
- •4.4.3. Основные свойства неорганических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания неорганических кристаллов
- •Газовые сцинтилляторы
- •4.4.4. Сцинтилляционные счетчики устройство и принцип работы фотоумножителя
- •Фотокатод
- •Диноды и коэффициент усиления фэу
- •5. Принцип работы стинтиляционного счетчика
- •Собственный фон умножителя
- •Ложные импульсы
- •Сборка сцинтилляционного счетчика
- •Сбор света
- •Светопроводы
- •4.4.5. Особенности применения сцинтилляционных счетчиков
- •Энергетическое разрешение
- •Регистрация сильноионизирующих короткопробежных частиц
- •.Регистрация электронов
- •Регистрация y-лучей
- •Раздел 4.5. Полупроводниковые детекторы
- •4.5.1. Принцип работы ппд.
- •Образование носителей заряда в полупроводниках под действием заряженных частиц
- •4.5.2. Основные типы ппд Характеристики кремния и германия
- •Свойства примесных германия и кремния
- •Переходы в полупроводниках
- •Ширина обедненной зоны
- •Емкость р-n-перехода
- •Токи утечки через переход
- •Энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа образованных пар носителей
- •Влияние шумов на энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа собранных носителей
- •Временное разрешение
- •Форма импульса,обусловленная парой носителей в р-I- n -детекторе
- •Форма импульса в детекторе с р-n-переходом
- •Форма линии
- •Радиационные повреждения детекторов
- •4.6. Трековые детекторы
- •Камеры Вильсона
- •Камеры непрерывного действия (диффузионные камеры)
- •Пузырьковые камеры
- •Искровая, стримерная и широкозазорная искровые, пропорциональная камеры
- •Кристаллические детекторы Регистрация следов заряженных частиц в диэлектрических средах
- •4.8. Счетчики черенкова
- •Энергетическое разрешение детекторов с фокусировкой
- •Оценка энергетического состава -квантов по функциям пропускания
- •Измерение по продуктам фотоядерных реакций
- •Сцинтилляционный метод
- •Однокристальные сцинтилляционные гамма-спектрометры
- •Полупроводниковая гамма-спектрометрия
- •Спектрометрия цезия–137
- •2.6. Детекторы гамма-излучения
- •1) Сцинтилляционные. 2)Полупроводниковые.
- •Методы обработки гамма-спектров Классический метод обработки спектров гамма-излучения
- •Матричный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров.
- •Генераторный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров
- •5.5.2. Спектрометрия заряженных частиц
- •Определение энергии заряженных частиц по пробегу и плотности ионизации
- •Измерение энергии частиц с помощью ионизационных камер, сцинтилляционных и полупроводниковых счетчиков
- •Измерение энергии тяжелых заряженных частиц
- •Измерение энергии электронов
- •Измерение энергии заряженных частиц с помощью магнитных спектрометров
- •Магнитные спектрометры для b- и a-спектрометрии
- •5.5.2.1. .Методы и средства измерения 90sr
- •1.Некоторые сведения о стронции-90
- •1.2. Стронций-90 в организме человека.
- •1.3. Стронций-90 во внешней среде
- •5.5.2.1.. Методы измерения 90sr
- •2.1. Основные положения
- •2.2 Матричный метод обработки бета-спектров
- •6. Приготовление радиоактивных источников
- •6.1. Типы радиоактивных источников.
- •6.2. Приготовление альфа–бета-источников
- •6.3. Приготовление гамма-источников
- •7. Поверка эталонов и рабочих источников
- •Поверка гамма–источников
6.3. Приготовление гамма-источников
Гамма-источники в основном приготавливают двух типов: жидкие или насыпные.
В зависимости от объема пробы, активность которой необходимо измерить, ее помещают в емкости различных объемов и формы.
Жидкие источники. При измерении активности жидких источников на сцинтилляционной установке с датчиком УСД-1 (и другими подобными приборами) пробы помещают в полистироловые стаканчики (набор которых прилагается к датчику) объемом 200 мл с делениями по 20 мл. При измерении стаканчики надеваются на кристалл NaI(Т1) размером 40 х 40 мм.
При использовании кристалла колодезного типа можно готовить источники малых объемов, помещая пробу в полистироловые пробирки объемом 5 мл. Пробирка помещается внутрь кристалла, благодаря чему при измерении достигается геометрия, близкая к 4пи.
При измерении активности источников на сцинтилляционной установке с датчиком специального изготовления пробы помещаются в стеклянные конические колбы или в пробирки (при применении кристалла колодезного типа). Для предотвращения адсорбции на стенках колб или пробирок в раствор добавляется концентрированная соляная или азотная кислота.
Насыпные источники. Насыпные источники готовятся при измерении активности солевых остатков, пищевых продуктов, почвы, ила, золы (после сжигания образцов) и т. д.
В качестве кювет для насыпных источников при измерении активности проб небольшого объема на сцинтилляционной установке может использоваться набор полистироловых стаканчиков датчика УСД-1. При измерении активности проб объемом до 1 л используется металлическая кювета цилиндрической формы с внутренним углублением по размеру кристалла..
7. Поверка эталонов и рабочих источников
Спектр излучения радиоактивных источников искажают и посторонние радиоактивные примеси в источниках, что может иметь место в равной мере в альфа, бета-, и гамма-источниках.
Следовательно, измерение активности нуклидов в источниках и растворах относительным методом должно сопровождаться исследованием спектрального состава их излучения или измерением каких-либо параметров, характеризующих спектр излучения, с целью исключения возможных систематических погрешностей этого рода.
Перед поверкой альфа-, бета- и гамма-источников проводят следующие •операции:
а) внешний осмотр источников;
б) проверку источников и пеналов на отсутствие радиоактивных загрязнений на их поверхностях;
в) проверку источников (только альфа-источников) на прочность активного слоя;
г) проверку источников (только гамма-источников) на герметичность.
При внешнем осмотре источников устанавливают правильность их маркировки и ее соответствие паспортным данным, отсутствие механических повреждений (деформаций, царапин и пр.) активного слоя или оболочек и отсутствие трещин в стеклянных ампулах у радиевых источников.
Проверка прочности активного слоя альфа-источников («проверка на осыпаемость») может быть выполнена простым способом — снятием мазков ватным тампоном при давлении порядка 10 г/м2.
Отсутствие радиоактивных загрязнений на наружной поверхности оболочек гамма-источников почти однозначно свидетельствует о герметичности источников.
ПОВЕРКА АЛЬФА–ЙСТОЧНИКОВ
Поверка образцовых и рабочих альфа-источников заключается в измерении их основной характеристики — активности нуклида, а также ряда дополнительных:
внешнего излучения (числа частиц, испускаемых в единицу времени в телесном угле 2п),
спектральных характеристик внешнего излучения и неравномерности распределения активного вещества по рабочей поверхности источника.
Для поверки альфа-источников необходимы следующие средства измерений:
а) набор альфа-источников, аттестованных в качестве рабочих эталонов единицы активности соответствующих .нуклидов,- для поверки образцовых альфа-источников 1-го разряда, наборы образцовых альфа-источников 1-го или 2-го разряда — для поверки образцовых альфа-источников 2-го разряда или соответственно рабочих альфа-источников;
б) поверочная установка (или комплект поверочных установок) для измерения активности нуклидов и внешнего излучения относительным методом в диапазоне значений активности от 2 до 2: 106 расп./сек для источников площадью активной поверхности от 1 до 160 см2;
в) установка для исследования спектральных характеристик внешнего излучения (желательно, чтобы функции этой установки могла выполнять поверочная установка, указанная в пункте б);
г) установка для измерения относительной неравномерности распределения радиоактивного вещества по рабочей поверхности источников.
Установка для поверки альфа-источников должна удовлетворять следующим основным техническим требованиям:
1. Должна иметь приспособление для фиксации измеряемых источников в одном или нескольких определенных положениях относительно детектора излучения; максимальное допустимое изменение скорости счета частиц или силы тока из-за неточной фиксации при повторной установке источника в то же положение не должно превышать 0,5%.
2. Для ослабления альфа-излучения (в случае необходимости) должна быть обеспечена возможность увеличения расстояния от источника до детектора.
3. В конструкции установки должна быть предусмотрена возможность помещать перед детектором фильтр, служащий для определения идентичности спектральных характеристик сравниваемых источников.
4. Эффективность детектора и регистрирующей аппаратуры установки, работающей в импульсном режиме, должна быть не менее 50%.
5. При перемещении «точечного» источника альфа-излучения в пределах площади активной поверхности поверяемых источников при наименьшем рабочем расстоянии между этой поверхностью и детектором эффективность установки не должна изменяться более, чем на 10% по отношению к среднему значению.
6. Нестабильность установки (при неизменном положении источника) не должна превышать ±1,5% за 8 ч непрерывной работы в нормальных условиях эксплуатации.
.7. К установке должна быть приложена градуировочная таблица для определения зависимости результатов сравнения источников от толщины активного и защитного слоев сравниваемых источников.
К установке для измерения относительной неравномерности распределения радиоактивного вещества по активной поверхности источников предъявляются следующие основные требования:
1. Детектор частиц должен иметь сменные диафрагмы с отверстиями площадью 3 и 5 см2. ( 2. Расстояние между активной поверхностью источника и плоскостью диафрагмы не должно превышать 3 мм.
3. Должна быть предусмотрена возможность проводить измерения относительной неравномерности распределения радиоактивного вещества по рабочей поверхности источников площадью от 10 до 160 см2, внешнее излучение которых в телесном угле 2л более 2 част./(сек-см2).
4. Нестабильность установки не должна превышать ±2%' за 8 ч непрерывной работы при нормальных условиях эксплуатации.
Все меры, измерительные приборы и измерительные установки, применяемые при поверке альфа-источников, должны иметь свидетельства об аттестации или поверке.
Измеряемый источник закрепляют на специальном столике-держателе, перемещаемом с помощью особого механизма.
