- •4.4. Оптический метод регистрации ионизирующих излучений
- •4.4.1. Общие характеристики сцинтилляторов
- •Общие свойства сцинтилляторов
- •4.4.2. Основные свойства органических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания органических кристаллов
- •Механизм высвечивания сцинтиллирующих растворов
- •Сместители спектра
- •4.4.3. Основные свойства неорганических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания неорганических кристаллов
- •Газовые сцинтилляторы
- •4.4.4. Сцинтилляционные счетчики устройство и принцип работы фотоумножителя
- •Фотокатод
- •Диноды и коэффициент усиления фэу
- •5. Принцип работы стинтиляционного счетчика
- •Собственный фон умножителя
- •Ложные импульсы
- •Сборка сцинтилляционного счетчика
- •Сбор света
- •Светопроводы
- •4.4.5. Особенности применения сцинтилляционных счетчиков
- •Энергетическое разрешение
- •Регистрация сильноионизирующих короткопробежных частиц
- •.Регистрация электронов
- •Регистрация y-лучей
- •Раздел 4.5. Полупроводниковые детекторы
- •4.5.1. Принцип работы ппд.
- •Образование носителей заряда в полупроводниках под действием заряженных частиц
- •4.5.2. Основные типы ппд Характеристики кремния и германия
- •Свойства примесных германия и кремния
- •Переходы в полупроводниках
- •Ширина обедненной зоны
- •Емкость р-n-перехода
- •Токи утечки через переход
- •Энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа образованных пар носителей
- •Влияние шумов на энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа собранных носителей
- •Временное разрешение
- •Форма импульса,обусловленная парой носителей в р-I- n -детекторе
- •Форма импульса в детекторе с р-n-переходом
- •Форма линии
- •Радиационные повреждения детекторов
- •4.6. Трековые детекторы
- •Камеры Вильсона
- •Камеры непрерывного действия (диффузионные камеры)
- •Пузырьковые камеры
- •Искровая, стримерная и широкозазорная искровые, пропорциональная камеры
- •Кристаллические детекторы Регистрация следов заряженных частиц в диэлектрических средах
- •4.8. Счетчики черенкова
- •Энергетическое разрешение детекторов с фокусировкой
- •Оценка энергетического состава -квантов по функциям пропускания
- •Измерение по продуктам фотоядерных реакций
- •Сцинтилляционный метод
- •Однокристальные сцинтилляционные гамма-спектрометры
- •Полупроводниковая гамма-спектрометрия
- •Спектрометрия цезия–137
- •2.6. Детекторы гамма-излучения
- •1) Сцинтилляционные. 2)Полупроводниковые.
- •Методы обработки гамма-спектров Классический метод обработки спектров гамма-излучения
- •Матричный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров.
- •Генераторный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров
- •5.5.2. Спектрометрия заряженных частиц
- •Определение энергии заряженных частиц по пробегу и плотности ионизации
- •Измерение энергии частиц с помощью ионизационных камер, сцинтилляционных и полупроводниковых счетчиков
- •Измерение энергии тяжелых заряженных частиц
- •Измерение энергии электронов
- •Измерение энергии заряженных частиц с помощью магнитных спектрометров
- •Магнитные спектрометры для b- и a-спектрометрии
- •5.5.2.1. .Методы и средства измерения 90sr
- •1.Некоторые сведения о стронции-90
- •1.2. Стронций-90 в организме человека.
- •1.3. Стронций-90 во внешней среде
- •5.5.2.1.. Методы измерения 90sr
- •2.1. Основные положения
- •2.2 Матричный метод обработки бета-спектров
- •6. Приготовление радиоактивных источников
- •6.1. Типы радиоактивных источников.
- •6.2. Приготовление альфа–бета-источников
- •6.3. Приготовление гамма-источников
- •7. Поверка эталонов и рабочих источников
- •Поверка гамма–источников
Энергетическое разрешение
В
спектрометрии ядерных излучений с
полупроводниковыми детекторами мерой
энергии, оставленной заряженной частицей
в чувствительном объеме, является
амплитуда сигнала во внешней цепи
детектора. При облучении детектора
пучком заряженных частиц, разброс по
энергии которых пренебрежимо мал и
пробег которых полностью укладывается
в чувствительном объеме детектора,
амплитуды сигналов во внешней цепи
будут иметь некоторый разброс вокруг
среднего значения. Величина этого
разброса и определяет энергетическое
разрешение детектора. Как показывает
опыт, с достаточно хорошей точностью
распределение сигналов по амплитудам
(или
иначе,
амплитудное распределение импульсов)
можно описать распределением Гаусса,
а в качестве меры разброса использовать
среднеквадратичное отклонение а. На
практике за меру разброса амплитуд
импульсов принимают ширину распределения
на полувысоте. В случае распределения
Гаусса она равна 2,3
.
Полупроводниковые детекторы характеризуются весьма малыми значениями (< 0,01). Дисперсия амплитудного распределения 2 складывается из ряда членов, обусловленных как самой природой процессов в счетчике, так и внешними причинами, например шумами усилителя.
Предположим также, что толщина мертвого слоя на поверхности счетчика, через который заряженные частицы попадают в детектор, пренебрежимо мала. Примем, что постоянная времени входной цепи усилителя сигналов много больше времени сбора носителей в детекторе. Последние два ограничения не принципиальны и могут быть учтены при некотором усложнении расчетов.
Каждый
источник разброса амплитуд сигналов
будем характеризовать дисперсией Di
или
среднеквадратичным отклонением σi.
Будем считать, что амплитудное
распределение описывается
распределением
Гаусса с
.
При рассмотрении полупроводниковых
счетчиков часто среднеквадратичное
отклонение распределения
или
i
выражают
в энергетических единицах, считая его
равным энергии частицы, образующей
сигнал, равный по величине среднеквадратичному
отклонению, т.е.
Е=W·
.
Флуктуации числа образованных пар носителей
При отсутствии потерь носителей при их движении к электродам среднее число собранных пар N =E/W, где Е – энергия частицы. Если бы процесс образования пар носителей описывался распределением Пуассона, то σс (статистическое) было бы равно (E/W)½. Однако в полупроводнике заметная часть (около 30%) энергии частицы идет на образование носителей, и поэтому процесс не описывается распределением Пуассона. Отклонение от этого распределения учитывается множителем F и тогда
σс =W(FE/W)½.
Для германия и кремния величина F по разным оценкам лежит в интервале 0,1…0,3.
Например, для кремниевого детектора с W = 3,65 эв, предполагая, что Е=1 Мэв, получаем в энергетических единицах σс ~ 1 кэв.
Это соотношение определяет принципиальный предел энергетического разрешения полупроводникового счетчика.
Влияние шумов на энергетическое разрешение
Будем характеризовать шум энергией частицы, которая создает сигнал, равный среднеквадратичной величине шумового сигнала. Тепловые шумы вызываются флуктуациями скорости теплового движения носителей, приводящими к неоднородному распределению носителей в полупроводнике. Они существуют в любом полупроводнике: с током и без него. Тепловые шумы проявляются как флуктуации напряжения на концах проводника. Величина теплового шума пропорциональна сопротивлению и температуре полупроводника. Тепловые шумы распределены равномерно в полосе частот 0 …∞, т.е. это «белый» шум. Можно показать, что для детектора с эквивалентной емкостью С энергия частицы, соответствующая среднеквадратичному шумовому сигналу, равна W/E(kTC) ½, где k – постоянная Больцмана, а Т – абсолютная температура, т.е.
σT =(W/e)(kTC) ½.
Зависимость σT от емкости, а не от величины сопротивления полупроводника, связана с тем, что цепь RC действует как фильтр, выделяя из белого спектра шумов некоторый ограниченный интервал. Фильтр тем уже, чем меньше, емкость. Уменьшить σT можно или охлаждая детектор, или уменьшая емкость. При комнатной температуре для кремния
σT = 1,5C1/2 кэв,
где С выражено в пф. При емкости р – n-перехода, равной 25 пф, σT = 7,5 кэв, что значительно больше, чем статистические флуктуации при поглощении энергии 1 Мэв. Однако в отличие от статистических флуктуации σT не зависит от энергии частицы, попавшей в детектор.
Основной вклад в объемный ток утечки дает ток генерации. Оценим среднеквадратичную флуктуацию генерационного тока утечки σg для кремниевого детектора с р-n-переходом, площадь которого составляет s см2,предполагая, что флуктуации числа носителей описываются распределением Пуассона. σg = 0,5 кэв.
