- •4.4. Оптический метод регистрации ионизирующих излучений
- •4.4.1. Общие характеристики сцинтилляторов
- •Общие свойства сцинтилляторов
- •4.4.2. Основные свойства органических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания органических кристаллов
- •Механизм высвечивания сцинтиллирующих растворов
- •Сместители спектра
- •4.4.3. Основные свойства неорганических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания неорганических кристаллов
- •Газовые сцинтилляторы
- •4.4.4. Сцинтилляционные счетчики устройство и принцип работы фотоумножителя
- •Фотокатод
- •Диноды и коэффициент усиления фэу
- •5. Принцип работы стинтиляционного счетчика
- •Собственный фон умножителя
- •Ложные импульсы
- •Сборка сцинтилляционного счетчика
- •Сбор света
- •Светопроводы
- •4.4.5. Особенности применения сцинтилляционных счетчиков
- •Энергетическое разрешение
- •Регистрация сильноионизирующих короткопробежных частиц
- •.Регистрация электронов
- •Регистрация y-лучей
- •Раздел 4.5. Полупроводниковые детекторы
- •4.5.1. Принцип работы ппд.
- •Образование носителей заряда в полупроводниках под действием заряженных частиц
- •4.5.2. Основные типы ппд Характеристики кремния и германия
- •Свойства примесных германия и кремния
- •Переходы в полупроводниках
- •Ширина обедненной зоны
- •Емкость р-n-перехода
- •Токи утечки через переход
- •Энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа образованных пар носителей
- •Влияние шумов на энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа собранных носителей
- •Временное разрешение
- •Форма импульса,обусловленная парой носителей в р-I- n -детекторе
- •Форма импульса в детекторе с р-n-переходом
- •Форма линии
- •Радиационные повреждения детекторов
- •4.6. Трековые детекторы
- •Камеры Вильсона
- •Камеры непрерывного действия (диффузионные камеры)
- •Пузырьковые камеры
- •Искровая, стримерная и широкозазорная искровые, пропорциональная камеры
- •Кристаллические детекторы Регистрация следов заряженных частиц в диэлектрических средах
- •4.8. Счетчики черенкова
- •Энергетическое разрешение детекторов с фокусировкой
- •Оценка энергетического состава -квантов по функциям пропускания
- •Измерение по продуктам фотоядерных реакций
- •Сцинтилляционный метод
- •Однокристальные сцинтилляционные гамма-спектрометры
- •Полупроводниковая гамма-спектрометрия
- •Спектрометрия цезия–137
- •2.6. Детекторы гамма-излучения
- •1) Сцинтилляционные. 2)Полупроводниковые.
- •Методы обработки гамма-спектров Классический метод обработки спектров гамма-излучения
- •Матричный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров.
- •Генераторный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров
- •5.5.2. Спектрометрия заряженных частиц
- •Определение энергии заряженных частиц по пробегу и плотности ионизации
- •Измерение энергии частиц с помощью ионизационных камер, сцинтилляционных и полупроводниковых счетчиков
- •Измерение энергии тяжелых заряженных частиц
- •Измерение энергии электронов
- •Измерение энергии заряженных частиц с помощью магнитных спектрометров
- •Магнитные спектрометры для b- и a-спектрометрии
- •5.5.2.1. .Методы и средства измерения 90sr
- •1.Некоторые сведения о стронции-90
- •1.2. Стронций-90 в организме человека.
- •1.3. Стронций-90 во внешней среде
- •5.5.2.1.. Методы измерения 90sr
- •2.1. Основные положения
- •2.2 Матричный метод обработки бета-спектров
- •6. Приготовление радиоактивных источников
- •6.1. Типы радиоактивных источников.
- •6.2. Приготовление альфа–бета-источников
- •6.3. Приготовление гамма-источников
- •7. Поверка эталонов и рабочих источников
- •Поверка гамма–источников
Механизм высвечивания неорганических кристаллов
Чистые (неактивированные) неорганические кристаллы при комнатной температуре не обладают сцинтилляционными свойствами. Действительно, поскольку действие заряженной частицы в ионном кристалле сводится к переводу электронов из целиком заполненной валентной зоны А в зону проводимости кристалла В, высвечивание в чистом кристалле может произойти лишь при обратном переходе электронов из зоны проводимости в зону А. Для того чтобы произошел обратный переход - рекомбинация электрона и дырки, необходимо, чтобы электрон попал в то место кристалла, где имеется свободный электронный уровень, а это может произойти только в результате такого медленного процесса, как диффузия. Кроме того, энергии фотонов, испускаемых при таких переходах, будут определяться шириной запрещенной зоны кристалла С и спектр флуоресценции перекроется спектром поглощения. При различных нарушениях структуры в реальных кристаллах возникают локальные энергетические уровни, образующие так называемые центры тушения. В центрах тушения электроны теряют свою энергию возбуждения нерадиационным путем, и, таким образом, вся энергия, потерянная частицей в кристалле, рано или поздно переходит в энергию теплового движения.
Введение небольшого количества активатора (~0,1%) создает в кристалле локальные энергетические уровни другого типа, называемые центрами люминесценции. Процесс высвечивания при посредстве центров люминесценции протекает довольно сложным образом и существенно определяется свойствами этих центров. В ионных кристаллах основной уровень атомов активатора располагается в запрещенной зоне кристалла С.
Если этот уровень представляет собой ловушку для электронов, то свободный электрон, оказавшись в результате диффузии вблизи центра люминесценции, испытывает захват, и избыток энергии возбуждения электрона испускается в виде кванта света с энергией Н (рис.5). Переход же электрона с уровня активатора в валентную зону кристалла А может произойти нерадиационным путем (2). Излучение с той же частотой может возникнуть и в том случае, когда уровень центра люминесценции является ловушкой для дырок. Это означает, что, когда в результате диффузии дырок (если, конечно, в рассматриваемом кристалле подвижность дырок не равна нулю) вблизи атома активатора окажется свободный электронный уровень, произойдет переход электрона из центра люминесценции в валентную зону кристалла А, при котором разность энергий излучается виде фотона. Последующее же заполнение уровня активатора электроном из зоны проводимости может произойти нерадиационным путем (2). При таком механизме флуоресценции интенсивность высвечивания в момент времени t должна быть пропорциональна концентрации оставшихся к этому моменту времени свободных электронов или дырок и, в соответствии с этим, убывает с течением времени по экспоненциальному закону, а время высвечивания т при заданной концентрации атомов активатора будет определяться лишь подвижностью электронов или дырок в данном кристалле.
Может оказаться, однако, что при захвате свободного электрона или дырки центром люминесценции энергия возбуждения расходуется нерадиационным путем, а излучением сопровождается последующая рекомбинация: захват дырки центром, удерживающим электрон или, наоборот, захват свободного электрона центром, захватившим ранее, дырку. Поскольку в этом случае интенсивность высвечивания пропорциональна произведению концентраций свободных электронов и дырок, то с течением времени интенсивность высвечивания будет спадать не экспоненциально, а по гиперболическому закону, причем большей начальной концентрации свободных электронов и дырок будет отвечать большая скорость спадания интенсивности высвечивания со временем.. Не исключена, по-видимому, и возможность еще более сложных процессов, связанных с электронными переходами в комбинированных донорно-акцепторных центрах люминесценции.
Процесс высвечивания в широко используемых кристаллах ZnS, активированных серебром (или медью), происходит через центры люминесценции, образуемые атомами активатора в запрещенной зоне кристалла С, уровни которых, в зависимости от технологии изготовления кристалла, располагаются на разной глубине. При простом замещении иона цинка в решетке ZnS на ион серебра уровень последнего располагается ниже границы зоны проводимости кристалла на 3,2 эв; если же в одном или нескольких узлах решетки, примыкающих к встроенному иону серебра, ионы серы замещены на ионы галоида (обычно, хлора), то глубина уровня несколько меньше (2,7—2,8 эВ). В соответствии с этим в спектре испускания кристаллов ZnS(Аg) могут наблюдаться две полосы с длинами волн в максимуме 4500 и 3800 Ао.
В активированных щелочно-галоидных кристаллах (типа NаJ) механизм высвечивания, по-видимому, существенно отличен от описанного выше. Предполагается, что значительная доля энергии, потерянной частицей в кристалле, в течение очень малого промежутка времени тем или иным путем преобразуется в энергию возбуждения связанных электронов - в экситоны. Последние, мигрируя, по кристаллу, захватываются центрами люминесценции, в которых и происходит высвечивание, обязанное электронным переходам в атомах (ионах) таллия.
И, наконец, в запрещенной зоне неорганических кристаллов могут присутствовать совсем неглубокие локальные уровни, возникающие вследствие малых дефектов решетки и также играющие роль электронных ловушек. Свободный электрон, захваченный таким уровнем, оказывается как бы в метастабильном состоянии, так как через некоторое время, определяемое глубиной уровня и температурой кристалла, он может опять попасть в зону проводимости кристалла В. При захвате этого электрона центром люминесценции его энергия возбуждения будет испущена в виде фотона с частотой, характерной для центра люминесценции. Но так как время пребывания электрона в ловушке может оказаться сравнительно большим, время высвечивания для процессов такого рода, называемых фосфоресценцией, значительно превысит время протекания прямого процесса - флуоресценции. Спектры же испускания для фосфоресценции и для флуоресценции будут одинаковыми.
