- •4.4. Оптический метод регистрации ионизирующих излучений
- •4.4.1. Общие характеристики сцинтилляторов
- •Общие свойства сцинтилляторов
- •4.4.2. Основные свойства органических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания органических кристаллов
- •Механизм высвечивания сцинтиллирующих растворов
- •Сместители спектра
- •4.4.3. Основные свойства неорганических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания неорганических кристаллов
- •Газовые сцинтилляторы
- •4.4.4. Сцинтилляционные счетчики устройство и принцип работы фотоумножителя
- •Фотокатод
- •Диноды и коэффициент усиления фэу
- •5. Принцип работы стинтиляционного счетчика
- •Собственный фон умножителя
- •Ложные импульсы
- •Сборка сцинтилляционного счетчика
- •Сбор света
- •Светопроводы
- •4.4.5. Особенности применения сцинтилляционных счетчиков
- •Энергетическое разрешение
- •Регистрация сильноионизирующих короткопробежных частиц
- •.Регистрация электронов
- •Регистрация y-лучей
- •Раздел 4.5. Полупроводниковые детекторы
- •4.5.1. Принцип работы ппд.
- •Образование носителей заряда в полупроводниках под действием заряженных частиц
- •4.5.2. Основные типы ппд Характеристики кремния и германия
- •Свойства примесных германия и кремния
- •Переходы в полупроводниках
- •Ширина обедненной зоны
- •Емкость р-n-перехода
- •Токи утечки через переход
- •Энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа образованных пар носителей
- •Влияние шумов на энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа собранных носителей
- •Временное разрешение
- •Форма импульса,обусловленная парой носителей в р-I- n -детекторе
- •Форма импульса в детекторе с р-n-переходом
- •Форма линии
- •Радиационные повреждения детекторов
- •4.6. Трековые детекторы
- •Камеры Вильсона
- •Камеры непрерывного действия (диффузионные камеры)
- •Пузырьковые камеры
- •Искровая, стримерная и широкозазорная искровые, пропорциональная камеры
- •Кристаллические детекторы Регистрация следов заряженных частиц в диэлектрических средах
- •4.8. Счетчики черенкова
- •Энергетическое разрешение детекторов с фокусировкой
- •Оценка энергетического состава -квантов по функциям пропускания
- •Измерение по продуктам фотоядерных реакций
- •Сцинтилляционный метод
- •Однокристальные сцинтилляционные гамма-спектрометры
- •Полупроводниковая гамма-спектрометрия
- •Спектрометрия цезия–137
- •2.6. Детекторы гамма-излучения
- •1) Сцинтилляционные. 2)Полупроводниковые.
- •Методы обработки гамма-спектров Классический метод обработки спектров гамма-излучения
- •Матричный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров.
- •Генераторный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров
- •5.5.2. Спектрометрия заряженных частиц
- •Определение энергии заряженных частиц по пробегу и плотности ионизации
- •Измерение энергии частиц с помощью ионизационных камер, сцинтилляционных и полупроводниковых счетчиков
- •Измерение энергии тяжелых заряженных частиц
- •Измерение энергии электронов
- •Измерение энергии заряженных частиц с помощью магнитных спектрометров
- •Магнитные спектрометры для b- и a-спектрометрии
- •5.5.2.1. .Методы и средства измерения 90sr
- •1.Некоторые сведения о стронции-90
- •1.2. Стронций-90 в организме человека.
- •1.3. Стронций-90 во внешней среде
- •5.5.2.1.. Методы измерения 90sr
- •2.1. Основные положения
- •2.2 Матричный метод обработки бета-спектров
- •6. Приготовление радиоактивных источников
- •6.1. Типы радиоактивных источников.
- •6.2. Приготовление альфа–бета-источников
- •6.3. Приготовление гамма-источников
- •7. Поверка эталонов и рабочих источников
- •Поверка гамма–источников
Флуктуации числа собранных носителей
Сбор носителей, возникших при пролете через чувствительный объем детектора заряженной частицы, никогда не бывает полным, поскольку время жизни носителей относительно рекомбинации конечно. Кроме полного исчезновения носителей в результате рекомбинации они могут быть временно захвачены ловушками, а затем через некоторое время покидать их и снова принимать участие в проводимости. При бесконечно большом времени сбора уменьшение числа носителей, достигших электродов счетчика, будет связано только с рекомбинацией. Если же постоянная времени входа усилителя меньше среднего времени удержания носителей в ловушках, то возникнут дополнительные флуктуации величины сигнала.
Время жизни носителей в большой степени зависит от способа приготовления и свойств компенсированного германия и кремния, а время сбора носителей – функция d и U, но если плотность носителей небольшая (заряженная частица, создавшая носители, образовала трек с малой плотностью ионизации), то флуктуации, возникающие в процессе сбора носителей, можно не учитывать. Однако, если заряженная частица создала трек с большой плотностью ионизации, то время сбора носителей может возрасти, так как вблизи трека вследствие экранировки напряженность электрического поля падает, а, следовательно, падает и скорость дрейфа носителей. Кроме того, большая плотность носителей приводит к увеличению вероятности рекомбинации, т.е. уменьшается их среднее время жизни. Эти эффекты могут привести к тому, что при регистрации сильно ионизирующих частиц (осколков деления, например) энергетическое разрешение детектора определится флуктуациями числа собранных носителей. Рассчитать или даже оценить количественно этот эффект практически невозможно.
Флуктуации в числе собранных носителей возникают и из-за неоднородных свойств полупроводникового кристалла. Разные области полупроводника характеризуются разными τr, следовательно, разной эффективностью сбора носителей. При регистрации γ-квантов, которые создают электроны приблизительно равномерно во всем объеме детектора, влияние неоднородностей несколько меньше из-за усреднения τr по всему объему, при регистрации короткопробежных частиц, поступающих в детектор извне, роль неоднородностей больше.
Рассмотренные источники разброса амплитуд сигналов вокруг среднего – статистика образования носителей, шумы детектора, флуктуации числа собранных носителей – не исчерпывают всех причин уширения формы линии детектора. Энергетическое разрешение полупроводникового детектора зависит также:
а) от шумов усилителя;
б) от нестабильности усилителя, т.е. неконтролируемого во времени изменения энергетической шкалы детектора;
в) от наложения импульсов друг на друга при больших скоростях счета;
г) от малого числа каналов в амплитудном анализаторе (детектор с энергетическим разрешением, равным 0,1%, предполагает использование анализатора, по крайней мере, с 4000 каналами).
Расчет и экспериментальное определение каждого источника энергетического разброса – это сложная и неоднозначная процедура. В лучших детекторах суммарная неопределенность от всех источников, кроме флуктуации в числе образованных первичной частицей пар носителей, составляет несколько килоэлектронвольт, т.е. меньше статистической, если в детекторе поглощено больше 2…3 Мэв энергии. Для примера на рис. 3.8 приведены результаты измерения энергетического разрешения германиевого р-i-п-детектора.
Рис. 3.8. Энергетическое разрешение германиевого детектора с р- i-n-переходом
Детектор облучался γ-квантами от различных радиоактивных источников. Энергетическое разрешение определялось по пику полного поглощения. Заметим, что статистические флуктуации в числе образованных пар носителей становятся определяющими, начиная с энергий порядка 2…3 Мэв.
