- •4.4. Оптический метод регистрации ионизирующих излучений
- •4.4.1. Общие характеристики сцинтилляторов
- •Общие свойства сцинтилляторов
- •4.4.2. Основные свойства органических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания органических кристаллов
- •Механизм высвечивания сцинтиллирующих растворов
- •Сместители спектра
- •4.4.3. Основные свойства неорганических сцинтилляторов
- •Механизм высвечивания неорганических кристаллов
- •Газовые сцинтилляторы
- •4.4.4. Сцинтилляционные счетчики устройство и принцип работы фотоумножителя
- •Фотокатод
- •Диноды и коэффициент усиления фэу
- •5. Принцип работы стинтиляционного счетчика
- •Собственный фон умножителя
- •Ложные импульсы
- •Сборка сцинтилляционного счетчика
- •Сбор света
- •Светопроводы
- •4.4.5. Особенности применения сцинтилляционных счетчиков
- •Энергетическое разрешение
- •Регистрация сильноионизирующих короткопробежных частиц
- •.Регистрация электронов
- •Регистрация y-лучей
- •Раздел 4.5. Полупроводниковые детекторы
- •4.5.1. Принцип работы ппд.
- •Образование носителей заряда в полупроводниках под действием заряженных частиц
- •4.5.2. Основные типы ппд Характеристики кремния и германия
- •Свойства примесных германия и кремния
- •Переходы в полупроводниках
- •Ширина обедненной зоны
- •Емкость р-n-перехода
- •Токи утечки через переход
- •Энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа образованных пар носителей
- •Влияние шумов на энергетическое разрешение
- •Флуктуации числа собранных носителей
- •Временное разрешение
- •Форма импульса,обусловленная парой носителей в р-I- n -детекторе
- •Форма импульса в детекторе с р-n-переходом
- •Форма линии
- •Радиационные повреждения детекторов
- •4.6. Трековые детекторы
- •Камеры Вильсона
- •Камеры непрерывного действия (диффузионные камеры)
- •Пузырьковые камеры
- •Искровая, стримерная и широкозазорная искровые, пропорциональная камеры
- •Кристаллические детекторы Регистрация следов заряженных частиц в диэлектрических средах
- •4.8. Счетчики черенкова
- •Энергетическое разрешение детекторов с фокусировкой
- •Оценка энергетического состава -квантов по функциям пропускания
- •Измерение по продуктам фотоядерных реакций
- •Сцинтилляционный метод
- •Однокристальные сцинтилляционные гамма-спектрометры
- •Полупроводниковая гамма-спектрометрия
- •Спектрометрия цезия–137
- •2.6. Детекторы гамма-излучения
- •1) Сцинтилляционные. 2)Полупроводниковые.
- •Методы обработки гамма-спектров Классический метод обработки спектров гамма-излучения
- •Матричный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров.
- •Генераторный метод обработки сцинтилляционных гамма-спектров
- •5.5.2. Спектрометрия заряженных частиц
- •Определение энергии заряженных частиц по пробегу и плотности ионизации
- •Измерение энергии частиц с помощью ионизационных камер, сцинтилляционных и полупроводниковых счетчиков
- •Измерение энергии тяжелых заряженных частиц
- •Измерение энергии электронов
- •Измерение энергии заряженных частиц с помощью магнитных спектрометров
- •Магнитные спектрометры для b- и a-спектрометрии
- •5.5.2.1. .Методы и средства измерения 90sr
- •1.Некоторые сведения о стронции-90
- •1.2. Стронций-90 в организме человека.
- •1.3. Стронций-90 во внешней среде
- •5.5.2.1.. Методы измерения 90sr
- •2.1. Основные положения
- •2.2 Матричный метод обработки бета-спектров
- •6. Приготовление радиоактивных источников
- •6.1. Типы радиоактивных источников.
- •6.2. Приготовление альфа–бета-источников
- •6.3. Приготовление гамма-источников
- •7. Поверка эталонов и рабочих источников
- •Поверка гамма–источников
Энергетическое разрешение
В реальном сцинтилляционном счетчике, однако, имеет место целый ряд явлений, приводящих к ухудшению его разрешающей способности по энергии. Прежде всего, само вещество сцинтиллятора может быть не вполне однородным по объему (несколько различная, например, концентрация активатора в разных частях сцинтиллятора), что приводит к некоторому различию в световыходах для частиц, проходящих в различных местах сцинтиллятора. Далее, в сцинтилляторе может иметь место краевой эффект результате которого частицы, оказавшиеся вблизи поверхности, выходят за пределы сцинтиллятора, потеряв в нем только часть своей энергии. Коэффициент собирания света на фотокатоде ФЭУ для световых вспышек, возникающих в разных местах сцинтиллятора, будет несколько разным. Если световая вспышка освещает не весь фотокатод одновременно, могут сказаться и различия квантового выхода для разных участков фотокатода. Для фотоэлектронов, вылетающих под разными углами и из разных мест катода, эффективность собирания на первом диноде также может быть различной. Коэффициент усиления ФЭУ изменяет свою величину при колебаниях напряжения питания фотоумножителя и т. д. И наконец, кроме этих чисто физических причин, значительный вклад в размытие линии вносят статистические флуктуации всех величин, определяющих амплитуду импульса в сцинтилляционном счетчике, начиная с флуктуации потерь энергии на ионизацию, испытываемых регистрируемой частицей в сцинтилляторе, и кончая флуктуациями коэффициента усиления фотоумножителя.
Из всех явлений, подверженных статистическим флуктуациям, наибольший вклад в разброс импульсов по амплитудам вносит, естественно, фотоэффект на катоде умножителя. Можно оценить среднеквадратичное отклонение от среднего значения для числаэлектронов, покидающих фотокатод при освещении его световой вспышкой, возникающей при прохождении частицы через сцинтиллятор.
Эта величина будет зависеть от потери энергии, испытываемой регистрируемой частицей в сцинтилляторе, и, например, при регистрации Y-лучей Сз137 с энергией 661 кэв составляет в кристалле NaJ(Т1) около 2%.
Действительно, предположив, что У-кванты поглощаются в кристалле полностью и что конверсионная эффективность для NaJ(T1) составляет 10%, получим для числа фотонов (средняя энергия фотонов 2,8 эв) в световой вспышке около 24 000.
При полном сборе света и квантовом выходе фотокатода в 10% число фотоэлектронов будет равно врего 2400. Среднеквадратичное отклонение этого числа от его среднего значения и равно как раз 2%. При увеличении энергии регистрируемого излучения относительная величина статистической флуктуации, естественно, убывает.
Очевидно, что рассчитанная таким образом флуктуация числа фотоэлектронов представляет собой нижний предел энергетического разрешения сцинтилляционного счетчика. В реальном случае разброс импульсов от моноэнергетических частиц по амплитудам на выходе сцинтилляционного счетчика значительно больше. Рассмотренные выше причины приводят к существенному уширению линии, и для У-лучей Сз137 разрешение по энергии, получаемое на опыте, составляет в лучшем случае всего 8%.
