- •Розділ 1 Вакуумні електронні прилади
- •Тема 1. Основні групи електронних приладів.
- •Тема 2. Принципи дії електронних ламп і лампових підсилювачів.
- •Тема 3. Електронна емісія.
- •3.1.Електронні стани в кристалах
- •3.1.1. Види емісій заряджених частинок
- •3.1.2. Енергія електронів в твердому тілі
- •3.1.3. Заповнення зон електронами
- •3.1.4. Зв’язок зонної структури і провідності
- •3.1.5. Поверхневий потенціальний бар’єр і робота виходу електронів
- •3.2. Термоелектронна емісія
- •3.2.1. Закон термоелектронної емісії
- •3.2.2. Вплив прискорюючого електричного поля
- •3.2.3. Вплив адсорбованих на поверхню катоду атомів сторонніх речовин
- •3.2.4. Термоелектронні катоди
- •Конструкції термокатодів.
- •3.3. Автоелектронна емісія
- •3.4.Фотоелектронна емісія
- •3.4.1. Основні закони фотоелектронної емісії.
- •3.4.2. Параметри фотокатодів
- •Типи фотокатодів.
- •3.5. Вторинна електронна емісія Основні закономірності.
- •Тема 4. Розподіл катодного струму в діоді
- •4.1. Розподіл потенціалу в діодних системах
- •4.2. Закон «степеня три других» для діода
- •Тема 5. Випрямні діоди
- •Тема 6. Тріод
- •6.1. Конструкція тріода
- •6.2. Діючий потенціал
- •Статичні характеристики тріода
- •6.4. Параметри тріода
- •Динамічний режим роботи тріода
- •Тема 7 Тетрод. Пентод
- •Тема 8. Шуми
- •Дробовий ефект
- •Тема 9. Фізика електронно-променевих приладів
- •9.1. Електростатичні електронні лінзи
- •9.2. Магнітні електронні лінзи
- •9.3. Осцилографічна електронно-променева трубка. Принцип дії. Принцип створення зображення на екрані.
- •Конструкція осцилографічної трубки
- •Принцип дії
- •– Катод; 2) – перша лінза (імерсійний об’єктив); 3) – друга, фокусуючи лінза; 4) – екран;
- •9.4. Відхиляюча система
- •9.5 Принцип створення зображення на екрані
- •9.6. Екрани електронно-променевих трубок
- •Тема 10 Фотоелектронні прилади
- •Основні типи фотоелектронних приладів
- •10.1. Фотоелементи
- •10.2. Фотоелектронні помножувачі
- •Тема 11. Електронно-оптичний перетворювач
- •Розділ 2. Плазмова електроніка
- •Тема 2.1. Фізика газорозрядних приладів
- •Електричний розряд в газах
- •Види електричних розрядів
- •Цифрові індикатори і газорозрядні індикаторні панелі.
- •Плазмові панелі
- •Розділ 3. Електроніка надвисоких частот (нвч)
- •Тема 3.1. Особливості руху електронів у змінних за часом полях
- •Тема 3.2. Відбивний клістрон
- •Тема 3.3. Лампа біжучої хвилі типу о
3.1.4. Зв’язок зонної структури і провідності
Класифікація твердих тіл за величиною їх електропровідності, яка змінюється більш ніж на 20 порядків, не може бути універсальною, тому що не враховує особливостей різних механізмів провідності, які існують у твердих тілах.
Інший метод класифікації заснований на температурній залежності електропровідності. Відомо, що електропровідність металів з ростом температури зменшується приблизно пропорційно Т–1, а напівпровідників — експоненціально зростає. Цей факт можна пояснити зонною теорією. Речовини, у яких заповнені енергетичні стани безпосередньо перекриваються з зоною вільних станів, є провідниками (метали). А якщо зони вільних і заповнених станів (зони провідності і валентна) розділені забороненою зоною, тоді такі речовини в нормальному стані є непровідними і відносяться до діелектриків або напівпровідників (рис.1.6.). Чіткої різниці між ними немає. Якщо ширина забороненої зони більша 3 еВ, така речовина є типовим діелектриком. Типові напівпровідники мають заборонену зону меншу 2 еВ.
При підвищенні температури деякі валентні зв’язки в кристалі розриваються, з’являються вільні електрони і дірки. На зонній діаграмі це перехід електронів у зону провідності. В валентній зоні з’являються вільні місця — дірки. Процес утворення вільних електронів і дірок в напівпровіднику під дією тепла називають термогенерацією носіїв заряду. У чистих напівпровідників кількість електронів в зоні провідності дорівнює кількості дірок у валентній зоні (n = p).
Якщо під час теплового хаотичного руху вільний електрон зустрінеться з діркою, відбудеться рекомбінація — зникнення двох вільних носіїв. На рис. 1.8. показані процеси генерації та рекомбінації носіїв у власному напівпровіднику.
Рис. 1.8.
При динамічній рівновазі обидва процеси йдуть неперервно, їх швидкості рівні. Чим менша ширина забороненої зони ΔЕ і вища температура, тим більше електронів перейде в зону провідності і вища буде електропровідність кристалу.
Зонні діаграми домішкових напівпровідників мають ту особливість, що домішкові енергетичні рівні знаходяться в забороненій зоні. При невеликій концентрації домішок їх енергетичні рівні зображуються штриховою лінією. Кожен «штрих» відповідає розміру домішкового атома.
Рис. 1.9.
На рис. 1.9. зображені зонні діаграми донорного а) та акцепторного б) напівпровідника. Ширина забороненої зони ΔЕ для кремнію складає величину порядку 1,1 еВ, для германія ΔЕ ≈ 0,75 еВ, для арсеніду галію ΔЕ ≈ 1,45 еВ. Енергія іонізації донорних ΔЕД та акцепторних ΔЕА атомів порядка 0,01÷0,1 еВ, тобто ΔЕД, ΔЕА << ΔЕ. Донорні та акцепторні рівні розташовані на невеликій відстані від своїх зон. Тому їх називають мілкими. Деякі домішки створюють у напівпровідниках домішкові рівні, які розташовані далеко від границь енергетичних зон. Такі рівні називають глибокими. В кремнії і германії глибокі рівні створюють атоми золота, міді, марганцю, заліза. Ці рівні відіграють велику роль при проходженні процесів рекомбінації нерівноважних носіїв зарядів.
При абсолютному нулі в домішковому напівпровіднику валентна зона повністю заповнена електронами, зона провідності — вільна. Атоми домішки знаходяться в неіонізованому стані. В донорному напівпровіднику домішковий рівень заповнений електронами домішки, в акцепторному — дірками.
З
підвищенням температури в першу чергу
відбувається іонізація атомів домішок.
Від домішкових донорних атомів
відриваються електрони і переходять в
зону провідності. При цьому створюються
нерухомі позитивно заряджені іони
домішки
,
які
в електропровідності
участі не беруть. Одночасно невелика
частина електронів власного напівпровідника
з валентної зони перейде в зону
провідності, а в валентній зоні з’являться
вільні дірки (рис. 1.10).
Рис. 1.10.
При
нагріванні акцепторного напівпровідника
електрони з валентної зони перейдуть
на акцепторні рівні, що приведе до
створення негативних іонів домішки
та появи дірок в валентній зоні. Крім
того в результаті іонізації власного
напівпровідника невелика частина
електронів з валентної зони перейде в
зону провідності (рис. 1.10 ).
