- •Глава 3. Элементы физики полупроводников
- •3.1. Классификация материалов твердотельной электроники
- •3.2. Элементы зонной теории твердого тела
- •3.3. Генерация и рекомбинация носителей заряда
- •3.4. Равновесная концентрация носителей заряда в полупроводнике
- •3.5. Собственный и примесный полупроводники
- •3.6. Время жизни неравновесных носителей заряда
- •3.7. Токи в полупроводниках
- •Диффузия носителей заряда
- •Уравнения токов
- •3.8. Эффекты сильных электрических полей
- •Междолинный переход носителей заряда
- •3.9. Оптические и фотоэлектрические свойства полупроводников
- •Люминесценция
- •3.10. Элементы физики поверхности полупроводника
- •3.10.1. Поверхностные уровни и поверхностная рекомбинация
- •Поверхностная рекомбинация
- •3.10.2. Концентрация носителей и область пространственного заряда на поверхности
- •Концентрация носителей и зонная модель поверхности полупроводника
- •Поверхностная проводимость, эффект поля в полупроводнике
- •3.11. Фундаментальные уравнения физики полупроводников
- •Контрольные вопросы
3.4. Равновесная концентрация носителей заряда в полупроводнике
В соответствии со статистикой Ферми-Дирака вероятность заполнения энергетического уровня электроном определяется энергией Е, соответствующей этому уровню, и абсолютной температурой Т [16]:
(3.2)
где F – энергия уровня Ферми, вероятность заполнения которого равна 1/2 и относительно которого кривая вероятности симметрична (рисунок 3.5).
Энергия Ферми представляет собой термодинамический потенциал Гиббса, отнесенный к одной частице. Её называют также электрохимическим потенциалом. Если в качестве точки отсчета энергии принять потолок валентной зоны (потенциальная энергия неподвижнцых электронов валентной зоны равна нулю), то для невырожденного полупроводника энергия Ферми будет предсталять собой среднюю энергию подвижного электронного газа: электронов зоны проводимости и дырок (подвижные электроны валентной зоны) в валентной зоне.
Рисунок 3.5 - Распределение электронов
в частично заполненной зоне (а) и
вероятности
заполнения
энергетических уровней (б)
нергия
уровня Ферми (F)
соответствует верхней границе
электронного распределения при
температуре Т
= 0, а также средней энергии «диапазона
размытия» при любой другой температуре
(рисунок 3.5).
Симметрия кривой вероятности
заполнения относительно уровня
Ферми означает одинаковую вероятность
заполнения уровня электроном с энергией,
большей на величину Е –
F,
и вероятность освобождения уровня от
электрона с энергией, на столько же
меньшей энергии уровня Ферми.
С помощью соотношения (3.2) можно определять заполнение электронами зоны проводимости или валентной зоны полупроводника. Но для валентной зоны удобнее говорить о дырках – пустых энергетических уровнях в валентной зоне. Любой энергетический уровень может либо быть занят электроном, либо свободен от электрона. Поэтому сумма вероятностей этих двух событий должна быть равна единице fn(E) + fp(E) = 1.
Тогда вероятность заполнения энергетического уровня дыркой
.
(3.3)
Уровень Ферми обычно расположен в запрещенной зоне энергетической диаграммы относительно далеко (в единицах энергии) от зоны проводимости и от валентной зоны по сравнению с энергией kТ (при комнатной температуре kТ ≈ 0,025 эВ), т.е.
|E – F| >> kT. (3.4)
Поэтому, пренебрегая единицей в знаменателе (3.2), вероятность распределения электронов по энергетическим уровням зоны проводимости определим с помощью статистики Максвелла – Больцмана
.
(3.5)
Аналогично найдем вероятность распределения дырок по энергетическим уровням валентной зоны с учетом (3.3) и (3.4)
.
(3.6)
Таким образом, для большинства полупроводников (невырожденных) можно пользоваться статистикой Максвелла — Больцмана и только в некоторых случаях для полупроводников (вырожденных) необходимо использовать статистику Ферми-Дирака. В вырожденном полупроводнике уровень Ферми находится в разрешенной зоне, и концентрация подвижных носителей не зависит от температуры (как в металлах).
Для определения концентрации электронов в невырожденном полупроводнике надо проинтегрировать по энергии произведение функции распределения плотности энергетических состояний в зоне проводимости [N(E)] и вероятности заполнения этих уровней электронами (3.5). Интегрирование нужно проводить от энергии дна до энергии потолка зоны проводимости. Если же учесть ничтожно малую вероятность заполнения уровней электронами у потолка зоны проводимости, то можно верхний предел интегрирования считать равным бесконечности, т. е.
.
Рисунок 3.6 - Вероятность заполнения электронами энергетических уровней
при различных температурах по статистике Ферми-Дирака
В результате интегрирования получим
,
(3.7)
где NС – эффективная плотность состояний в зоне проводимости; ЕС – энергия дна зоны проводимости.
Аналогично, равновесная концентрация дырок в любом невырожденном полупроводнике при термодинамическом равновесии
,
(3.8)
где NV – эффективная плотность энергетических состояний в валентной зоне, энергия которых приведена к потолку валентной зоны; EV – энергия потолка валентной зоны.
Таким образом, равновесная концентрация носителей заряда определяется эффективной плотностью уровней в соответствующей зоне, температурой и положением уровня Ферми относительно дна зоны проводимости или потолка валентной зоны.
