- •1. Патентные исследования. Общие положения.
- •1.1. Термины и определения.
- •1.2. Цели проведения патентных исследований.
- •1.3. Разработка задания на проведение патентных исследований.
- •Задание № 1 на проведение патентных исследований
- •Шифр работы (темы) __________________________________________
- •Календарный план
- •1.4. Разработка регламента поиска
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •Регламент поиска №1
- •2. Поиск, отбор и анализ источников патентной информации при проведении патентных исследований.
- •2.1. Особенности описания изобретения как источника информации
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •3. Факторы, определяющие конкурентоспособность продукции, их связь с патентными исследованиями.
- •3.1. Соответствие технического уровня продукции последним достижениям науки и техники.
- •3.2. Соответствие качества продукции требованиям потребителей.
- •3.3. Тенденции развития рынка продукции
- •3.4. Условия конкуренции на данном рынке
- •3.5. Патентно-правовые показатели продукции
- •3.6. Производственные факторы
- •3.7. Условия поставки и сбыта продукции
- •3.8. Ценовые факторы
- •3.9. Информационные факторы
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •4. Виды патентных исследований и их связь с этапами создания продукции.
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •5. Определение требований потребителей к промышленной продукции
- •Связанных с улучшением тэп.
- •5.1. Определение коэффициентов весомости показателей продукции на основе экспертных оценок
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •6. Анализ тенденций развития рынка продукции
- •6.1. Анализ условий конкуренции на рынке продукции конкретного назначения.
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •7. Оценка технического уровня продукции на основе патентных исследований
- •7.1.Оценка технического уровня промышленно освоенной продукции.
- •7.2.Оценка технического уровня проектируемого объекта техники.
- •7.3. Оценка технического уровня на ранних этапах разработки объектов техники.
- •Расчет обобщенных показателей технического уровня функциональных элементов нового хроматографа
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •8. Теоретические основы оценки значимости изобретений.
- •8.1. Выбор базы сравнения при оценке значимости изобретений
- •Тестовые вопросы
- •9. Анализ новизны и эффективности научно-технических достижений, создаваемых в процессе разработки
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •10. Экспертиза объектов техники на патентную чистоту
- •10.1. Расширительное толкование формулы изобретения при установлении факта нарушения патента.
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •11. Патентные исследования, связанные со стоимостной оценкой интеллектуальной собственности.
- •11.1. Общие подходы к стоимостной оценке оис.
- •11.2. Оценка доли прибыли, обусловленной использованием изобретения.
- •11.3. Оценка рыночной стоимости изобретений с использованием доходного подхода на основе патентных исследований.
- •11.4. Порядок оценки стоимости изобретений.
- •11.5. Пример расчета рыночной стоимости изобретения.
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •12. Оформление отчета о патентных исследованиях
- •Форма отчета о поиске
- •Формы к разделам основной части отчета о патентных исследованиях
- •Д.3.1. Экспертиза на патентную чистоту
- •Вопросы для подготовки к экзамену (зачету)
- •Список литературы
11.4. Порядок оценки стоимости изобретений.
Исходными данными для стоимостной оценки ИС являются:
данные о правовой охране оцениваемой ИС;
данные о сроках морального старения продукции с использованием оцениваемого изобретения (расчетном периоде);
данные о планируемых по годам расчетного периода объемах производства и реализации продукции с использованием изобретения;
данные о базовом образце продукции (заменяемой продукции), в сравнении с которым предлагается оценивать приращение прибыли от использования оцениваемого изобретения;
данные о номенклатуре технико-экономических показателей продукции (ТЭП), по которым предлагается сравнивать продукцию с использованием оцениваемого изобретения с базовым образцом продукции аналогичного назначения;
данные о коэффициентах весомости ТЭП, используемых для сравнения продукции с использованием оцениваемого изобретения с базовым образцом продукции;
данные об оценке технического уровня продукции с использованием оцениваемого изобретения;
данные о продажной цене единицы базовой продукции;
сравнительные данные по себестоимости единицы продукции с использованием оцениваемого изобретения и базового образца продукции.
Указанные выше исходные данные для стоимостной оценки изобретения желательно представить в виде отчета о патентных исследованиях, выполненных в соответствии с ГОСТ Р 15.011-96 "Патентные исследования. Содержание и порядок проведения" с обязательным заполнением раздела отчета, связанного с оценкой технического уровня продукции с использованием оцениваемой ИС.
Номенклатура ТЭП, используемых для сравнения продукции с использованием изобретения и базового образца продукции, и коэффициенты весомости этих ТЭП, представляется в виде таблицы 39, заполняемой по следующей форме:
Таблица 39. Профиль требований к продукции
-
Наименование технико-экономических показателей (ТЭП) продукции
Коэффициенты весомости
ТЭП, Кi
P1
P2
P3
------
Pn
K1
K2
K3
----
Kn
Итого:
Номенклатуру ТЭП и их коэффициенты весомости, представляемые в таблице 39, рекомендуется определять либо на основе патентных исследований, либо на основе метода экспертных оценок. Метод экспертных оценок следует использовать только в том случае, если невозможно использовать результаты патентных исследований.
Результаты сопоставительного анализа ТЭП продукции с использованием оцениваемого изобретения и базового образца продукции сводятся в таблицу 40, заполняемую по следующей форме:
Таблица 40. Сопоставительный анализ продукции с использованием оцениваемого ОИС и базового образца
-
Наименование ТЭП
Значение ТЭП продукции с ОИС
Значение ТЭП базового образца
Результаты сравнения (лучше, хуже, на уровне)
Р1
Р2
Р3
----
Рn
Р1оис
Р2оис
Р3оис
----
Рnоис
Р1БО
Р2БО
Р3БО
----
РnБО
…
…
…
…
…
Расчет обобщенного показателя технического уровня (КТУ) продукции с использованием оцениваемого изобретения рекомендуется осуществлять по формуле:
где
ΣКТУ- алгебраическая сумма коэффициентов весомости тех ТЭП продукции с использованием оцениваемого изобретения, которые по своим значениям отличаются от таковых для базового образца продукции в лучшую или худшую сторону. При этом если какой-либо показатель продукции с использованием ИС превосходит аналогичный показатель базового образца продукции, то его коэффициент весомости (Кi) входит в расчетную формулу (35) со знаком "+", если он уступает соответствующему показателю базового образца, то его коэффициент весомости (Кi) входит в формулу (35) со знаком "-". Те показатели продукции с использованием изобретения, для которых результаты сопоставительного анализа (таблица 40) не дают оснований для вывода о их улучшении или ухудшении в сравнении с базовым образцом продукции (их значения находятся на одном уровне с соответствующими показателями базового образца), вообще не учитываются при расчете Кту, т.е. не включаются в формулу (35).
В том случае, если на предприятии, осваивающем продукцию с использованием изобретения ранее выпускалась продукция аналогичного назначения, на замену которой направлена продукция с использованием изобретения в качестве базового образца используется эта ранее выпускавшаяся продукция (заменяемая продукция).
В том случае, если продукция с использованием изобретения является новой для данного предприятия, т.е. ранее на этом предприятии не выпускалась продукция аналогичного назначения, в качестве базового образца рекомендуется использовать продукцию аналогичного назначения, производимую предприятием (фирмой-конкурентом) и пользующуюся спросом на рынке Российской Федерации.
