- •1. Патентные исследования. Общие положения.
- •1.1. Термины и определения.
- •1.2. Цели проведения патентных исследований.
- •1.3. Разработка задания на проведение патентных исследований.
- •Задание № 1 на проведение патентных исследований
- •Шифр работы (темы) __________________________________________
- •Календарный план
- •1.4. Разработка регламента поиска
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •Регламент поиска №1
- •2. Поиск, отбор и анализ источников патентной информации при проведении патентных исследований.
- •2.1. Особенности описания изобретения как источника информации
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •3. Факторы, определяющие конкурентоспособность продукции, их связь с патентными исследованиями.
- •3.1. Соответствие технического уровня продукции последним достижениям науки и техники.
- •3.2. Соответствие качества продукции требованиям потребителей.
- •3.3. Тенденции развития рынка продукции
- •3.4. Условия конкуренции на данном рынке
- •3.5. Патентно-правовые показатели продукции
- •3.6. Производственные факторы
- •3.7. Условия поставки и сбыта продукции
- •3.8. Ценовые факторы
- •3.9. Информационные факторы
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •4. Виды патентных исследований и их связь с этапами создания продукции.
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •5. Определение требований потребителей к промышленной продукции
- •Связанных с улучшением тэп.
- •5.1. Определение коэффициентов весомости показателей продукции на основе экспертных оценок
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •6. Анализ тенденций развития рынка продукции
- •6.1. Анализ условий конкуренции на рынке продукции конкретного назначения.
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •7. Оценка технического уровня продукции на основе патентных исследований
- •7.1.Оценка технического уровня промышленно освоенной продукции.
- •7.2.Оценка технического уровня проектируемого объекта техники.
- •7.3. Оценка технического уровня на ранних этапах разработки объектов техники.
- •Расчет обобщенных показателей технического уровня функциональных элементов нового хроматографа
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •8. Теоретические основы оценки значимости изобретений.
- •8.1. Выбор базы сравнения при оценке значимости изобретений
- •Тестовые вопросы
- •9. Анализ новизны и эффективности научно-технических достижений, создаваемых в процессе разработки
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •10. Экспертиза объектов техники на патентную чистоту
- •10.1. Расширительное толкование формулы изобретения при установлении факта нарушения патента.
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •11. Патентные исследования, связанные со стоимостной оценкой интеллектуальной собственности.
- •11.1. Общие подходы к стоимостной оценке оис.
- •11.2. Оценка доли прибыли, обусловленной использованием изобретения.
- •11.3. Оценка рыночной стоимости изобретений с использованием доходного подхода на основе патентных исследований.
- •11.4. Порядок оценки стоимости изобретений.
- •11.5. Пример расчета рыночной стоимости изобретения.
- •Вопросы для самопроверки.
- •Тестовые вопросы
- •12. Оформление отчета о патентных исследованиях
- •Форма отчета о поиске
- •Формы к разделам основной части отчета о патентных исследованиях
- •Д.3.1. Экспертиза на патентную чистоту
- •Вопросы для подготовки к экзамену (зачету)
- •Список литературы
Список литературы
Гражданский кодекс Российской Федерации, часть четвертая. Введен в действие 1 января 2008г. Федеральным законом «О введении в действие части четвертой Гражданского кодекса Российской Федерации».
ГОСТ Р 15.011-96 «Система разработки и поставки продукции на производство. Патентные исследования. Содержание и порядок проведения».- М; Из-во стандартов, 1996г.
ГОСТ 15467-79 «Управление качеством продукции. Основные понятия. Термины и определения».- М; Из-во стандартов, 1979г.
ГОСТ Р ИСО 9000-2001.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Патентные исследования на основе баз данных, представленных в Интернете - М. : ИНИЦ "ПАТЕНТ", 2014. - 160 с. : ил., табл.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Теория и практика патентных исследований - М. : ИНИЦ "ПАТЕНТ", 2014. - 208 с. : ил., табл. - Библиогр.: с.197-199 (39 назв.).
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Анализ тенденций развития рынка для продукции конкретного назначения // ПИ сегодня. - 2013. - № 4. - С. 23-29. - Библиогр.: с. 29
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Проведение патентных исследований - необходимое условие обеспечения конкурентоспособности продукции - М. : ИНИЦ "ПАТЕНТ", 2012. - 168 с. : ил., табл. - Библиогр.: с.165-166
Скорняков, Э.П. Еще раз о формуле изобретения на применение // Патентный поверенный. - 2012. - № 2. - С.25-27.- Библиогр.: с. 27.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Оценка рыночной стоимости изобретений на основе патентных исследований с использованием доходного подхода // ПИ сегодня. - 2011. -№ 4. - С.27-32.- Библиогр.: с. 32.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Экспертиза объектов техники на патентную чистоту // ПИ сегодня. - 2011. - № 3. - С.29-35.- Библиогр.: с. 35.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Оценка технического уровня промышленно освоенной продукции. // ПИ сегодня. - 2011. - № 2. - С. 30-34.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Практикум по патентным исследования : учеб.-метод. пособие / - М. : ИНИЦ "ПАТЕНТ", 2011. - 206 с. : табл. - Библиогр.: с. 204.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Оценка технического уровня на ранних этапах разработки объектов техники // ПИ сегодня. - 2011. - № 1. - С.25-31.- Библиогр.: с. 31.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Выбор базы сравнения при оценке значимости изобретений // ПИ сегодня. - 2010. - № 2. - С.26-32.- Библиогр.: с. 32 .
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Анализ новизны и эффективности научно-технических достижений, создаваемых в процессе разработки новой продукции // ПИ сегодня. - 2010.- № 3. - С.26-30.- Библиогр.: с. 30.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Расширительное толкование формулы изобретения при установлении факта нарушения патента // Патентный поверенный. - 2010. - № 4. - С. 23-29.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Оценка технического уровня на ранних этапах разработки объектов техники // ПЛ. - 2010. - № 7. - С. 56-63.- Библиогр.: с. 63.
Скорняков, Э.П., Горбунова М.Э. Теоретические основы оценки значимости изобретений // ПИ сегодня. - 2010. - № 1. - С.28-33.- Библиогр.: с. 33.
Шведова, В.В.Исследование патентной чистоты объекта: практ. пособие - М.: ИНИЦ "ПАТЕНТ", 2011. - 216 с . : табл. - Библиогр.: с.213-214.
Шведова, В.В.Характерные ошибки при проведении патентных исследований : практ. пособие. - М. : ИНИЦ "ПАТЕНТ", 2012. - 94 с.
Шведова, В.В.Исследование технического уровня объектов науки и техники -М. : ИНИЦ "ПАТЕНТ", 2014. - 103 с. : табл. - Библиогр.: с. 94-96.
Ненахов Г.С., Максимова В.В., Прибыткова Т.Б., Дарина О.Н., Федяева И.А. Практика проведения и оформления информационного поиска в ведущих патентных ведомствах: практ. пособие.-М.: ИНИЦ «ПАТЕНТ», 2012.- 144 с.
Заполняется при необходимости
ПИ-патентные исследования;
ТУ –технические условия;
ПФ – патентный формуляр
количество лет при необходимости
1Включаются показатели, оказывающие влияние на результаты деятельности хозяйствующего субъекта: технико-экономические, эффективности использования по назначению, технические, эргономические, экологические, безопасности и т.д.
2результаты анализа применимости в объекте исследования известных объектов интеллектуальной собственности в отчете могут быть представлены в произвольной форме.
приводятся сведения по поданным заявкам на получение охраны промышленной собственности
