7.2 Матеріали і обладнання

В роботі використовують дифрактометр типу ДРОН, зразки після пластичної деформації або певної термічної обробки, дифрактограми, обчислювальну техніку, канцелярські прилади.

7.3 Порядок виконання роботи

1. На дифрактометрі ДРОН-1 записати дифракційні лінії 110 та 220 зразків після гартування та різних температур відпуску, а також еталона, відпаленого тривалий час при підвищеній температурі.

2. Визначити ширину максимумів B та b відповідно для зразка та еталона. Поправку на дублет здійснюють тільки для лінії 220, оскільки виміряна ширина лінії В₁₁₀ є істинною шириною (В_о)₁₁₀ , тобто В₁₁₀ = (В_о)₁₁₀. Аналогічно для еталона маємо b₁₁₀ = (b_о)₁₁₀.

3. Істинне значення ширини максимуму 220 визначають з використанням графіка поправок на дублет (рис. 7.1).

4. Розрахувати фізичне поширення ліній ₁₁₀ та ₂₂₀ за формулами:

та .

(7.8)

5. Для знаходження n₂₂₀ та m₁₁₀ розв`язати систему рівнянь (7.4), скориставшись обчислювальною технікою. Дані занести в табл. 7.1.

Таблиця 7.1 - Експериментальні дані для визначення характеристик тонкої структури

Зразок	Диф.макс. 110			Дифракційний максимум 220					m110, рад	n220, рад
	В=В0,		110, рад	В,		, рад	В0, Рад	220, рад
	мм	рад		мм	рад

6. Визначити а/а, , D та  за формулами (7.1, 7.5, 7.6, 7.7). Побудувати графіки залежності вказаних характеристик від режиму обробки і пояснити одержані дані.

7. Для находження відносних похибок у визначенні розміру блоків і мікронапружень скористатись рис.7.2.

Рисунок 7.1 – Графік поправок на дублетність випромінювання

Рисунок 7.2 – Відносна похибка у визначенні розміру блоків та мікронапружень

7.4 Зміст звіту

Стисло описати метод визначення характеристик тонкої структури. Привести розрахунки, таблицю 7.1 з даними, зробити висновки щодо оцінки результатів дослідження.

7.5 Контрольні питання

1. Якими факторами визначається поширення дифракційних ліній (максимумів)?

2. Який зв`язок існує між характеристиками тонкої структури і видами обробки сплавів?

3. Чому треба враховувати поправку на дублетність ліній (максимумів)?

4. Як визначається геометричне поширення дифракційних ліній (максимумів)?

5. Показати, що похибки в визначенні n i m відповідно для ліній (максимумів) 220 та 110 менші, ніж для ліній (максимумів) 110 та 220.

Література

[1, с.263-351; 2, с.313-318; 4, с.145-155; 5, с.143-148].

Лабораторна робота № 8 аналіз мікроструктури матеріалів за допомогою растрового електронного мікроскопа з рентгенівським мікроаналізатором

Мета роботи ознайомитись з устроєм та принципом роботи растрового електронного мікроскопа типу РЕМ-106И, навчитись якісно визначати хімічний склад в мікрооб’ємах зразків та аналізувати характер зламів