- •Предисловие
- •1. Данные о преподавателе:
- •Распределение учебного времени
- •3. Пререквизиты:
- •4. Постреквизиты:
- •5. Краткое описание курса
- •6. Содержание курса
- •7. График выполнения и сдачи заданий срс по дисциплине
- •9. Политика курса:
- •10. Информация об оценке знаний
- •11. Политика выставления оценок
- •8. Список литературы
- •Шкала оценки знаний студентов
- •Тема 1. Введение. Элементы кинематики
- •Тема 2. Динамика поступательного и вращательного движений
- •Тема 3. Принцип относительности в механике.
- •Тема 4. Физика колебаний и волн
- •Тема 5. Молекулярно - кинетическая теория идеальных газов
- •Тема 6 Основы термодинамики
- •Тема 7. Электростатика
- •Тема 8. Постоянный электрический ток
- •Тема 9. Магнитное поле в вакууме и в веществе
- •Тема 10. Основы теории Максвелла для электромагнитного поля
- •Тема 11. Элементы геометрической и волновой оптики
- •Тема 12. Квантовая природа излучения
- •Тема 13. Элементы квантовой механики
- •Тема 14. Элементы квантовой статистики
- •Тема 15. Атомное ядро. Ядерные реакции
- •Изучение движения тел по наклонной плоскости
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Натуральный логарифм этого отношения называется логарифмическим декрементом затухания:
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Определение момента инерции маятника максвелла
- •Порядок работы
- •Определение коэффициента вязкости жидкости методом стокса
- •Порядок работы
- •Определение отношения удельных теплоемкостей газа методом адиабатического расширения
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Электроизмерительные приборы
- •1. Электроизмерительные приборы и их классификация
- •1.1 Основные электроизмерительные приборы
- •1.2 Классификация приборов по принципу действия
- •1.3 Характеристики электроизмерительных приборов
- •1.4 Амперметры, вольтметры, гальванометры
- •1.5.Вспомогательные электрические приборы
- •2. Правила работы с электрическими схемами
- •Для соблюдения техники безопасности при работе с электрическими схемами следует:
- •3.Измерения и обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Определение сопротивления проводников с помощью мостиковой схемы
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Определение горизонтальной составляющей напряженности магнитного поля земли
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Исследование процесса разряда конденсатора через сопротивление
- •Контрольные вопросы
- •Изучение последовательной цепи переменного тока
- •Теория метода
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Изучение поляризации света
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Снятие вольтамперной характеристики фотоэлемента
- •Зависимость силы тока от прило-
- •Порядок работы
- •Контрольные вопросы
- •Задачи для аудиторных занятий
- •Задания для самостоятельной работы студентов
- •1. Основные физические постоянные (округленные значения)
- •2. Некоторые астрономические величны
- •3. Плотность твердых тел
- •4. Некоторые свойства твердых веществ
- •9. Удельное электрическое сопротивление r металлов
- •10. Показатель преломления
- •11. Работа выхода а электронов из металла
- •12. Периоды полураспада радиоактивных ядер
- •13. Масса и энергия покоя некоторых частиц
- •14. Таблица синусов
- •15. Таблицы тангенсов
- •16. Основные математические константы и связанные с ними преобразования
- •Мукашева Алия Кенжебековна Кутумова Жибек Байсултановна
Контрольные вопросы
1. Какое сопротивление называется активным, реактивным?
2. Как влияют емкостное и индуктивное сопротивление на колебания тока
и напряжения?
3. Вывод формулы индуктивного и емкостного сопротивления.
4. Вывести формулу полного сопротивления, используя векторную
диаграмму.
5. Как изменится ток в цепи при удалении сердечника из катушки?
Л а б о р а т о р н а я р а б о т а № 41
Определение длины световой волны с помощью дифракционной решетки
Цель: изучение явления дифракции света
Приборы: дифракционная решетка, проекционный фонарь, экран с мил-
лиметровой шкалой
Т е о р и я м е т о д а
Явления, возникающие при распространении света в среде с резко выраженными неоднородностями, получили название дифракции света. В более узком смысле, под дифракцией понимают огибание волнами препятствий.
Явление дифракции можно объяснить, пользуясь принципом Гюйгенса-Френеля: каждая точка пространства до которой доходит световое возбуждение становится вторичным источником полусферических волн, огибающая которых представляет фронт вторичной волны.
Если на щель падает поток параллельных лучей (рис.1), то после прохождения щели фронт вторичных волн плоский только в средней части, а по краям искривляется. Таким образом, свет попадает за непрозрачный экран.
Дифракционную картину можно рассчитать, применив метод зон Френеля. Пусть на щель шириной а падает поток параллельных лучей (рис.2). После прохождения щели свет распространяется по разным направлениям. Выберем произвольное направление лучей под углом j к первоначальному. Опустим перпендикуляр из точки А на луч 2.
АС - фронт вторичной волны
ВС = D - оптическая разность хода лучей
Из треугольника АВС найдём, что оптическая разность хода D = аsinj. Отложим на оптической разности хода отрезки, равные l/2. Пусть таких отрезков уместилось 2. Проведём из точки деления прямую, параллельную фронту АС до щели. Тогда щель также разобьется на две части или две зоны - зоны Френеля. Каждая зона посылает колебания в противофазе с соседней. Если на пути лучей прошедших через щель поставить собирающую линзу, то она соберет лучи в фокальной плоскости в точке M. Колебания в точку М придут в противофазе и результирующая будет равна нулю и точка М не будет освещена. Отсюда вытекает условие минимума: если на открытой части волнового фронта укладывается четное число длин полуволн, то в наблюдаемой точке свет будет ослаблен (погашен), т.е.
а
sin
j
= 2k
k
= 0,1,2…
Если на открытой части волнового фронта укладывается нечетное число зон Френеля (рис.3), то в наблюдаемой точке свет будет усилен, или, если на оптической разности хода укладывается нечетное число полуволн,
то в наблюдаемой точке свет будет усилен т.е.
а sin j = (2k +1) k = 0,1,2…
Рис.1
Рис. 2
Рис.3
Рис.4
Рис.5
Если взять не одну щель, а несколько, т.е. дифракционную решетку (рис.4), то на каждой щели будет наблюдаться явление дифракции. Лучи прошедшие через все щели дифракционной решетки, собираются линзой в одной точке, т.е., интерферируют. Условие максимума интерференции наблюдается при четном числе длин полуволн, укладывающихся на оптической разности хода.
D = (а+b) sinj - оптическая разность хода
Тогда (а+b) sinj = kl - условие максимума дифракционной решетки где k = 1,2,3…
Если на дифракционную решетку падает белый свет, то на экране наблюдается дифракционный спектр. Из условия максимума дифракционной решетки можно определить длину волны
l
=
На рисунке 5 приведена схема установки. Здесь L -расстояние от дифракционной решетки до экрана. S - источник света, А - щель, 0-объектив осветителя, Д - дифракционная решетка, Э - экран, l - расстояние от центральной полосы до середины исследуемой линии.
В
связи с малостью угла отклонения
sin
j
»
tqj
=
.
Тогда
l
=
где а+b = 1/100 мм - постоянная дифракционной решетки.
