- •В.О. Боровий,р.М. Літнарович геодезичні прилади Конспект лекцій
- •6.07 09 04 “Землевпорядкування та кадастр”
- •7.07 09 08 “Геоінформаційні системи і технології”
- •III семестр
- •IV семестр
- •V семестр. Електронні геодезичні прилади
- •2. Призначення і класифікація геодезичних приладів
- •Передмова
- •III семестр
- •1. Предмет і задачі курсу, його зв`язок з іншими дисциплінами.
- •3. Розвиток геодезичного приладобудування за кордоном, в Росії і на Україні.
- •4. Принцип Ферма. Основні закони геометричної оптики. Повне внутрішнє відбиття.
- •5. Плоске дзеркало. Система двох дзеркал: паралельних і між
- •6. Лінзи. Їх види. Оптичні деталі з плоскими заломлюючими поверхнями.
- •8. Центрована і ідеальна оптичні системи. Кардинальні площини і точки. Телескопічна система.
- •9. Лупа. Об`єктив, його характеристики. Види об`єктивів.
- •10. Окуляр, його характеристики. Види окулярів. Мікроскоп.
- •11. Оптична система зорової труби. Типи фокусування.
- •12. Основні характеристики зорової труби, методи їх визначення.
- •13. Кутомірні круги і лінійні шкали . Спосіб їх виготовлення.
- •Спосіб виготовлення
- •14. Поняття про похибки поділу кутів і методи їх визначення.
- •15. Типи і призначення відлікових улаштувань.
- •16. Рівні геодезичних приладів, їх призначення. Види ампул.
- •19. Методи визначення ціни поділки рівня.
- •20. Електронні рівні.
- •21. Осьові системи геодезичних приладів.
- •22. Основні конструкції вертикальних осей.
- •23. Типи компенсанорів в нівелірах.
- •24. Маятникові компенсатори нахилу.
- •25. Компенсатори нахилу з рівнем.
- •27. Ексцентриситет алідади і лімба, його вплив.
- •28. Вплив ексцентриситету.
- •Лекція №9
- •29. Визначення ексцентриситету алідади і лімба.
- •30. Методика визначення ексцентриситету (див. Методичку)
- •31. Підіймальні гвинти. Закріпні і навідні гвинти.
- •32. Виправні, юстирувальні гвинти. Елеваційний гвинт.
- •34. Тахеометри
- •36 Електронні тахеометри.
- •37 Спеціальні геодезичні прилади.
- •V семестр
- •1.1 Часовий метод
- •2.2. Частотний метод, заснований на ефекті Доплера.
- •2.3. Схема допплерівського віддалемірного пристрою (показано на рис. 2.2)
- •3.1. Виключення багатозначності за наближеним значенням виміряної лінії.
- •3.3 Виключення багатозначності при вимірюваннях на фіксованих частотах.
- •3.4. Виключення багатозначності на близьких фіксованих довжинах хвиль (частот).
- •Всі фазові віддалеміри складаються з чотирьох основних вузлів:передавача, приймача, фазовимірювального пристрою та відбивача. Три перші вузли розміщують на одному кінці лінії,а відбивач – на другому.
- •4.1 Загальна функціональна схема віддалеміра.
- •4.2 Загальна функціональна схема світловіддалеміра першого покоління.
- •5.1 Загальна функціональна схема віддалеміра 2-го, і 3-го поколінь.
- •5.2 Віддалеміри 3-го покоління.
- •6.1 Електромагнітні хвилі оптичного діапазону
- •6.2 Будова газового лазера показана на рис.6.1.
- •7.2 Принцип дії напівпровідникових оптичних генераторів
- •8.1 Модуляція і інтенсивність світла
- •8.2 Два способи модуляції світла
- •8.3 Механічні і фізико-оптичні модулятори.
- •9.1 Оптичні осі кристала
- •9.2 Комірка Керра
- •9.3 Фазовий зсув променів.
- •10.1 Статична і модуляційна характеристики неповної комірки Керра.
- •10.2 Фотоелектронні помножувачі та фотодіоди.
- •Оптичні деталі і системи в геодезичних приладах
- •1. Положення і закони геометричної оптики
- •2. Поняття геометричної оптики
- •3. Оптичне скло, його характеристики і виготовлення
- •4. Плоскі дзеркала. Системи двох плоских дзеркал
- •5. Плоско-паралельна пластинка
- •6. Заломлення променя сферичною поверхнею. Сферичне дзеркало.
- •7. Призми
- •9. Центрована і ідеальна оптичні системи. Кардинальні площини і точки. Збільшення оптичної системи
- •10. Складання центрованих оптичних систем. Телескопічна система
- •Література.
- •Чернігівський державний інститут економіки і управління
- •Конспект лекцій
- •6.07 09 04 “Землевпорядкування та кадастр”
- •7.07 09 08 “Геоінформаційні системи і технології”
15. Типи і призначення відлікових улаштувань.
По типу відліку по лімбу улаштування розрізняють:
1. По верньєру (ноніусу);
2. По штриховому мікроскопу;
3. По шкаловому мікроскопу;
4. По мікроскопу з оптичним мікрометром.
Різні відлікові улаштування вирішують різні завдання. Це, як правило:
а) оцінка на око десятих частин інтервалу між штрихами лімбу;
б) коінцидентного сполучення штрихів (діаметральне сполучення).
Як правило, відлікові пристрої конструктивно розташовані поруч з зоровою трубою (для зручності зняття відліку). Нижче наведені відлікові пристрої.
Верньєр – допоміжна шкала, яка може переміщуватися вздовж основної шкали і служить для оцінки десятих частин основної шкали. На верньєрі на 1 штрих більше, ніж на лімбі, тобто сам інтервал між штрихами менший.
Рис.5.1. Принцип верньєра
1 – лімб;
2 – верньєр.
Верньєр - це прототип штангенциркуля.
(5.2)
-ціна
поділки верньєра;
-
ціна поділки лімба; n-число
поділок верньєра;
n-1 - число поділок лімба; t-точність верньєра.
Точність верньєра визначається:
Рис.5.2. Точність верньєра
Повірки верньєра:
1) При сполученні першого штриха останній також має збігатися;
2) Між шкалою лімба і шкалою верньєра зазор не повинен перевищувати половину товщини штриха.
Штриховий мікроскоп.
Він є найпростіший із сучасних оптичних відлікових пристроїв. Тут на сітку ниток наноситься штрих, що є індексом. Він знаходиться в площині зображення об’єктива мікроскопа на скляній пластинці. Оцінка десятих долей виконується до 0,1 поділки на око.
Така конструкція застосована в технічних теодолітах Т-30 і Th-51 фірми „Opton”.
Слід звернути увагу, що при такій конструкції знімають відліки тільки по одному краю лімба, тобто ексцентриситет не виключається.
Рис.5.3.Штриховий мікроскоп
Повірки і вимоги.
1.Зображення штрихів круга і штриха індексу повинні спостерігатися однаково чітко;
2.Штрих-індекс повинен розташовуватись паралельно штрихам круга (лімба).
Шкаловий мікроскоп.
Шкаловий мікроскоп –сучасний відліковий пристрій, який використовується в точних теодолітах типу Т5. Тут в фокальній площині мікроскопа на скляній пластинці встановлюють шкалу, довжина якої повинна відповідати відстані між сусідніми штрихами лімба.
Невідповідність довжини шкали найменшому видимому інтервалу лімба називається реном.
Рен можна змінити завдяки регулюванню збільшення мікроскопа. Точність відліку по цьому мікроскопу –0,1΄.
Відлік
:5˚22,΄8.
Рис.5.4. Шкаловий мікроскоп
Вимоги до шкалового мікроскопу.
1.Рен має бути відсутній або знаходитись в допустимих межах.
2.Штрихи лімба і штрихи мікроскопа мають бути видно чітко при одному положенні окуляра мікроскопу, тобто повинен бути відсутній паралакс.
Така конструкція застосовується також в теодолітах Theo-020 фірми “Opton” і Т16 фірми “Вільд”.
Крім наведених вище є конструкція мікроскопа з гвинтовим мікрометром. Вона застосовується в теодоліті ТТ2/6 (теодоліт тріангуляційний). Така конструкція ще й сьогодні є в астрономічних приладах. Мікроскоп точний, але складний.
Найбільш сучасний відліковим улаштуванням є мікроскоп з оптичним мікрометром. Він застосовується в найбільш точних теодолітах Т1, Т2, Т0,5 а також в теодоліті Theo-010 фірми “Opton”.
Принцип дії мікроскопа з оптичним мікрометром полягає в тому , що за його допомогою відслідковують переміщення зображення ділянки шкали лімба.
Конструктивно мікроскоп з оптичним мікрометром має вигляд мінімум одного, а частіше 2 рухомих оптичних клинків, які при переміщенні барабаном оптичного мікрометра одночасно переміщують шкалу з поділками. Ця шкала має 600 поділок (10х60 штрихів-секунд, тобто 10΄х60˝).
Переваги мікроскопа з оптичним мікрометром:
1.Більш висока точність по відношенню до всіх інших;
2.Зручність в користуванні, так як окуляр оптичного мікрометра знаходиться поруч з окуляром зорової труби.
Оптичний мікрометр може бути конструктивно виготовлений так, що рухомий елемент може бути виконаний як:
а)плоско паралельна пластинка, що обертається відносно нерухомої вісі;
б)оптичний рухомий клин , що переміщується паралельно оптичній вісі;
в)обертаючий оптичний клин;
г)лінза, що переміщується перпендикулярно оптичній вісі та інше.
Оптичний мікрометр в точних теодолітах (наприклад в Т1,Т2,Т05) виконується у вигляді двох пар клинків : одна пара рухома, друга –нерухома. При цьому одна і друга пара мають клинки з однаковим кутом захоплення та орієнтовані один до одного так, що захоплюючі ребра направлені в протилежні сторони.
Оптичний мікрометр нівеліра.
В точних нівелірах застосовується мікрометр, який виконаний у вигляді плоско паралельної пластинки , що обертається перед об’єктивом на певний кут і. Так як пластинка плоско паралельна і знаходиться в паралельних пучках променів , то, відповідно до законів фізики , вона зміщує зображення рейки на величину h.
Рис.5.5. Оптичний мікрометр нівеліра
1-об’єктив нівеліра;
2-плоско паралельна пластинка;
3-барабан що нахиляє плоско паралельну пластинку.
Відлік по шкалі барабана змінюється від 0 до 100 поділок. При поділці рейки , на яку ми візуємо , яка , наприклад, має 5 мм, похідній поділці шкали буде відповідати зміщення h по рейці 0,05мм, коли 10мм – h=0,1мм. Така конструкція застосовується в точному нівелірі Н 1. Вона дає можливість більш точного зняття відліку по рейці. Наприклад, якби не було цієї пластинки, то ми десяті частини відліку знімали б на око, а при її наявності, знаючи ціну однієї поділки барабана і кількість поділок барабана, - більш точно визначаємо точність відліку.
