- •Основы молекулярной физики и термодинамики
- •Федеральное агентство по образованию гоу впо «Сибирский государственный технологический университет»
- •Основы молекулярной физики и термодинамики
- •Введение
- •Часть I. Общие теоретические сведения курса «основы молекулярной физики и термодинамики»
- •Глава I.1. Молекулярно-кинетическая теория
- •§I.1.1 предмет молекулярной физики
- •§I.1.2 термодинамическая система. Термодинамические параметры. Уравнение состояния
- •§I.1.4 идеальный газ. Газовые законы. Уравнение состояния идеального газа
- •§I.1.3 термодинамический процесс. Изопроцессы
- •§I.1.5 закон авогадро. Закон дальтона
- •§I.1.6 основное уравнение кинетической теории газов. Закон равномерного распределения энергии по степеням свободы
- •§I.1.7 статистическое распределение
- •§I.1.8 средняя длина свободного пробега молекул
- •§I.1.9 явления переноса в газах
- •Глава I.2. Основы термодинамики
- •§I.2.1 полная и внутренняя энергия системы. Теплота и работа
- •§I.2.2 теплоёмкость вещества
- •§I.2.3 первый закон (начало) термодинамики. Применение первого закона термодинамики к изопроцессам
- •§I.2.4 второй закон (второе начало) термодинамики
- •Глава I.3. Реальные газы, жидкости и твёрдые тела
- •§I.3.1 уравнение ван-дер-ваальса
- •§I.3.2 экспериментальные изотермы
- •§I.3.3 внутренняя энергия реального газа. Эффект джоуля - томсона
- •Область выше этой кривой соответствует отрицательному эффекту Джоуля-Томсона, ниже – положительному. При больших перепадах давления на дросселе температура газа изменяется значительно.
- •§I.3.4 взаимные превращения жидкостей и газов
- •§I.3.5 строение жидкостей. Поверхностное натяжение
- •§I.3.6 смачивание. Капиллярные явления.
- •§I.3.7 строение и некоторые свойства твёрдых тел
- •§I.3.8 дефекты в кристаллах
- •§I.3.9 тепловые явления в средах при механическом воздействии
- •Часть II. Примеры решения задач
- •Глава II.1. Молекулярно-кинетическая теория
- •§II.1.1 идеальные газы. Газовые законы.
- •§II.1.2 основы молекулярно - кинетической теории газов
- •§II.1.3 статистическая физика
- •§II.1.4 физическая кинетика
- •Глава II. 2. Основы термодинамики
- •§II.2.1 первый закон термодинамики
- •§II.2.2 второй закон термодинамики
- •§II.2.3 реальные газы
- •Решение
- •Решение Из уравнения Ван-дер-Ваальса следует, что
- •Для идеального газа
- •§II.2.4 жидкости
- •Решение
- •Решение
- •Решение
- •Решение
- •§II.2.5 твёрдые тела
- •Решение
- •Решение
- •Решение
- •Решение
- •Решение
- •Работа упругих сил, имеющих вид
- •Решение
- •Часть III. Вопросы и задачи для самопроверки
- •Глава III.1. Молекулярно-кинетическая теория
- •§ III.1.1 идеальные газы. Газовые законы.
- •§III.1.2 основы молекулярно - кинетической теории газов
- •Микроскопическая пылинка углерода обладает массой 0,1 нг. Определить, из скольких атомов она состоит.
- •§III.1.3 статистическая физика
- •§III.1.4 физическая кинетика
- •Явления переноса
- •Глава III. 2. Основы термодинамики
- •§III.2.1 первый закон термодинамики
- •§III.2.2 второй закон термодинамики
- •§III.2.3 реальные газы
- •§III.2.4 жидкости
- •§III.2.5 твёрдые тела
- •Сводные данные о характеристиках изопроцессов в газах.
- •Единицы измерения важнейших физических величин
- •Универсальные физические постоянные
- •Плотности
- •Эффективные диаметры молекул и атомов
- •Постоянные Ван –дер –Ваальса
- •Критические значения температуры и давления
- •Коэффициенты поверхностного натяжения жидкостей
- •Перечень ключевых слов
- •Библиографический список Основная литература
- •Дополнительная литература
- •Оглавление
- •Основы молекулярной физики и термодинамики
- •Федеральное агентство по образованию гоу впо «Сибирский государственный технологический университет»
- •Основы молекулярной физики и термодинамики
§I.3.8 дефекты в кристаллах
В предыдущем параграфе речь в основном шла об идеальных кристаллических структурах, но они существуют лишь в очень малых объёмах реальных кристаллов, в которых всегда имеются отклонения от упорядоченного расположения частиц в узлах решётки, называемые дефектами кристаллической решётки. Дефекты делятся на макроскопические, возникающие в процессе образования и роста кристаллов (трещины, поры, инородные макроскопические включения), и микроскопические, обусловленные микроскопическими отклонениями от периодичности.
Микродефекты делятся на точечные и линейные. Точечные дефекты бывают трёх типов: вакансия (отсутствие атома в узле кристаллической решётки); междоузельный атом (атом, внедрившийся в междоузельное пространство); примесный атом - атом примеси, или замещающий атом основного вещества в кристаллической решётке (примесь замещения), или внедрившийся в междоузельное пространство (примесь внедрения, только в междоузлии вместо атома основного вещества располагается атом примеси). Точечные дефекты нарушают лишь ближний порядок в кристаллах, не затрагивая дальнего порядка, - в этом состоит их характерная особенность.
Дислокация представляет собой более сложный дефект структуры, чем любой из точечных дефектов. Искажение кристаллической структуры вызвано тем, что в часть объёма кристалла введена лишняя атомная плоскость. Искажение сосредоточено в основном вблизи нижнего края «полуплоскости» лишних атомов. Поэтому под дислокацией и понимается линия искажения, которая проходит вдоль края лишней атомной плоскости. Дислокация представляет собой «линейный» дефект. Линейные дефекты нарушают дальний порядок.
Важнейшая характерная особенность всех дислокаций состоит в том, что сильные искажения сосредоточены в непосредственной близости от дислокационной линии. Эта область называется ядром дислокации. В стороне от ядра деформации настолько малы, что к ним можно применять теорию малых деформаций, т.е. теорию упругости. Поэтому область вдали от ядра дислокации называется упругой областью.
Возможны два предельных вида дислокаций - краевая и винтовая. Любая конкретная дислокация обычно представляет собой сочетание этих двух видов. Если одна из атомных плоскостей обрывается внутри кристалла, то край этой плоскости образует краевую дислокацию. Важнейшие особенности нарушения порядка в расположении атомов вокруг краевой дислокации – искажения возле края лишней полуплоскости. Они вызваны тем, что ближайшие атомы как бы пытаются согласовать своё расположение с резким обрывом лишней плоскости. Поэтому атомы, расположенные непосредственно над краем лишней полуплоскости, испытывают действие сжимающих напряжений: два атомных ряда, слева и справа от лишней плоскости прижаты друг к другу. Однако непосредственно под лишней полуплоскостью расстояние между аналогичными двумя атомными рядами больше, чем в искаженных участках кристалла. Соответственно в этом месте структура растянута. Это локальное расширение называется дилатацией. Кроме простого растяжения и сжатия решётки, в непосредственной близости от дислокации структура испытывает также сдвиговые напряжения. Однако искажения, вызванные сдвигом, гораздо сложнее, чем дилатация.
В случае винтовой дислокации ни одна из атомных плоскостей внутри кристалла не обрывается, а сами плоскости лишь приблизительно параллельны и смыкаются друг с другом так, что фактически кристалл состоит из одной атомной плоскости, изогнутой по винтовой поверхности (она начинается у одного края кристалла и кончается у другого). Направление винта может быть как право-, так и левосторонним, а шаг винта может составлять от одного до нескольких межатомных расстояний на один полный оборот винта. У описанной выше простой дислокации шаг равен одному межатомному расстоянию на один полный оборот.
Как и в случае краевой дислокации, степень искажений зависит от расстояния до центра дислокации. Области, достаточно удалённые от винтовой дислокации, испытывают очень малые локальные искажения. Напротив, области вблизи центра сильно искажены, и здесь возникают локальные нарушения симметрии кристалла.
В противоположность искажениям вокруг краевой дислокации вблизи центра винтовой дислокации возникают не дилатации, а скручивание или сдвиг решётки. Атомы, находящиеся на винтовой поверхности, смещены со своих исходных мест в совершенном кристалле.
Плотность дислокаций - число дислокаций, приходящихся на единицу площади поверхности кристалла. Дислокации никогда не обрываются, они либо выходят на поверхность, либо разветвляются, поэтому в реальном кристалле образуются плоские или пространственные сетки дислокаций.
