- •1) Электронная конфигурация внешних оболочек атомов и типы сил связи в твердых телах.
- •2) Структуры важнейших полупроводников - элементов aiv, avi и соединений типов аiiiвv, аiiвvi , аivвvi.
- •3) Симметрия кристаллов.
- •4)Трансляционная симметрия кристаллов.
- •5) Базис и кристаллическая структура.
- •6) Элементарная ячейка.
- •7) Примитивная ячейка.
- •8) Ячейка Вигнера—Зейтца. Решетка Браве.
- •Решетки Бравэ
- •9) Обозначения узлов, направлений и плоскостей в кристалле.
- •10) Обратная решетка, ее свойства.
- •11) Зона Бриллюэна.
- •Характерные точки зоны Бриллюэна
- •Интересные особенности
- •12) Примеси и структурные дефекты в кристаллических и аморфных полупроводниках.
- •13) Химическая природа и электронные свойства примесей.
- •14) Точечные, линейные и двумерные дефекты.
- •Источники и стоки точечных дефектов
- •Комплексы точечных дефектов
- •Одномерные дефекты
- •Двумерные дефекты
- •Трёхмерные дефекты
- •15) Методы выращивания объемных монокристаллов из жидкой фазы
- •16) Методы выращивания эпитаксиальных пленок (эпитаксия из жидкой и газовой фазы).
- •17) Молекулярно-лучевая эпитаксия.
- •18) Металлоорганическая эпитаксия
- •19) Методы легирования полупроводников
- •21) Основные приближения зонной теории.
- •22) Волновая функция электрона в периодическом поле кристалла.
- •23) Зона Бриллюэна.
- •24) Энергетические зоны.
- •25) Эффективная масса.
- •Эффективная масса для некоторых полупроводников
- •26) Плотность состояний.
- •Определение
- •27) Уравнения движения электронов и дырок во внешних полях.
- •28) Искривление энергетических зон в электрическом поле.
- •29) Связь зонной структуры с оптическими свойствами полупроводника.
- •30) Уровни энергии, создаваемые примесными центрами в полупроводниках.
- •31) Доноры и акцепторы.
- •32) Мелкие и глубокие уровни.
- •33) Водородоподобные примесные центры.
- •34) Функция распределения электронов.
- •35) Концентрация электронов и дырок в зонах, эффективная плотность состояний.
- •36) Невырожденный и вырожденный электронный (дырочный) газ.
- •37) Концентрации электронов и дырок на локальных уровнях.
- •38) Положение уровня Ферми и равновесная концентрация электронов и дырок в собственных и примесных (некомпенсированных и компенсированных) полупроводниках.
- •39) Многозарядные примесные центры.
- •40) Проводимость, постоянная Холла и термо-эдс. По характеру проводимости. Собственная проводимость
- •Примесная проводимость
- •Полупроводник p-типа
- •41) Дрейфовая скорость, дрейфовая и холловская подвижности, фактор Холла.
- •42) Дрейфовый и диффузионный ток.
- •43) Соотношение Эйнштейна.
- •44) Механизмы рассеяния носителей заряда в неидеальной решетке.
- •45) Взаимодействие носителей заряда с акустическими и оптическими фононами.
- •46) Рассеяние носителей заряда на заряженных и нейтральных примесях.
- •47) Генерация и рекомбинация неравновесных носителей заряда.
- •48)Уравнение кинетики рекомбинации.
- •49) Времена жизни.
- •50) Фотопроводимость.
- •51) Механизмы рекомбинации.
- •52) Излучательная и безызлучательная рекомбинация.
- •53) Межзонная рекомбинация.
- •54) Рекомбинация через уровни примесей и дефектов.
- •55) Центры прилипания.
- •57) Схема энергетических зон в контакте металл-полупроводник.
- •58) Обогащенные, обедненные и инверсионные слои пространственного заряда вблизи контакта.
- •59) Вольт-амперная характеристика барьера Шоттки.
- •60) Энергетическая диаграмма р-п перехода.
- •61) Инжекция неосновных носителей заряда в р-п переходе.
- •62) Гетеропереходы.
- •63) Энергетические диаграммы гетеропереходов.
- •64) Поверхностные состояния и поверхностные зоны.
- •Природа поверхностных состояний
- •Состояния Тамма
- •Состояния Шокли
- •Поверхностные состояния, обусловленные дефектами кристаллической решётки на поверхности
- •Пс примесного типа
- •Пс в слоистых структурах
- •Энергетический спектр пс
- •Зоны пс
- •Двумерные зоны
- •Одномерные зоны
- •Типы пс по времени релаксации
- •65) Искривление зон, распределение заряда и потенциала вблизи поверхности.
- •66) Поверхностная рекомбинация.
- •67) Межзонные переходы.
- •68) Край собственного поглощения в случае прямых и непрямых, разрешенных и запрещенных переходов.
- •69) Экситонное поглощение и излучение.
- •70) Спонтанное и вынужденное излучение.
- •Применение
- •Последние открытия
- •71) Поглощение света на свободных носителях заряда.
- •72) Поглощение света на колебаниях решетки.
- •73) Влияние примесей на оптические свойства.
- •77) Эффект Бурштейна-Мосса.
- •74) Примесная структура оптических спектров вблизи края собственного поглощения в прямозонных и непрямозонных полупроводниках.
- •75) Межпримесная излучательная рекомбинация.
- •76) Экситоны, связанные на примесных центрах.
- •78) Примесная и собственная фотопроводимость.
- •79) Влияние прилипания неравновесных носителей заряда на фотопроводимость.
- •4. В общем случае центры прилипания сложным образом изменяют как кинетику, так и стационарную величину фп.
- •80) Оптическая перезарядка локальных уровней и связанные с ней эффекты.
- •81) Термостимулированная проводимость.
- •82) Фотоэлектромагнитный эффект
- •83) Аморфные и стеклообразные полупроводники.
- •84) Структура атомной матрицы некристаллических полупроводников
- •85) Идеальное стекло.
- •86) Гидрированные аморфные полупроводники
- •87) Особенности электронного энергетического спектра неупорядоченных полупроводников
- •88) Плотность состояний
- •89) Локализация электронных состояний
- •90) Щель подвижности
- •91) Легирование некристаллических полупроводников
- •103) Вольтамперная характеристика р-п перехода.
- •104) Приборы с использованием р-п переходов.
- •105) Туннельный диод.
- •106) Диод Ганна.
- •107) Биполярный транзистор.
- •108) Тиристор.
- •109) Энергетическая диаграмма структуры металл-диэлектрик-полупроводник (мдп).
- •110) Полевые транзисторы на мдп-структурах.
- •111) Приборы с зарядовой связью.
- •112)Фотоэлементы и фотодиоды.
- •113) Спектральная чувствительность и обнаружительная способность.
- •114) Полупроводниковые детекторы ядерных излучений.
- •115)Фотоэлектрические преобразователи, кпд преобразования.
- •117) Инжекционные лазеры на основе двойной гетероструктуры.
- •118) Использование наноструктур в полупроводниковых приборах.
- •119) Гетеротранзистор с двумерным электронным газом (немт).
- •120) Гетеролазеры на основе структур с квантовыми ямами и квантовыми точками.
- •121) Резонансное туннелирование в двухбарьерной гетероструктуре и резонансно-туннельный диод.
- •122) Оптический модулятор на основе квантово-размерного эффекта Штарка.
84) Структура атомной матрицы некристаллических полупроводников
В неупорядоченных системах отсутствует дальний порядок в расположении атомов. Вместе с тем более чем полвека назад было экспериментально установлено, что как в жидкостях, так и в некристаллических твердых телах сохраняется определенный так называемый локальный порядок в расположении атомов. В отличие от кристаллов, в которых порядок в расположении атомов на любом
уровне жестко задан трансляционной симметрией, для неупорядоченных систем понятие локального порядка нуждается в уточнениях: какова протяженность областей локального порядка в расположении
атомов? какие параметры необходимы и достаточны для его полного описания?
Рассматривая элементы упорядочения в некристаллических материалах, в первую очередь можно выделить ближний порядок в расположении атомов, определяемый химической природой атомов, образующих данное вещество (валентностью, длиной и углом химической связи). Как правило, полагают [1], что область ближнего порядка включает атомы, являющиеся ближайшими соседями
НОма, выбранного за центральный (находящиеся от него на минимальном расстоянии), и входящие в так называемую первую координационную сферу (атомы 1 и 3 по отношению к атому 2 на рис. 3.1, а, атомы 1, 3, 4, 5 по отношению к атому 2 на рис. 3.1, б). Параметрами ближнего порядка являются:
число ближайших соседних атомов (первое координационное число ) ; их тип; расстояние от них до центрального атома (радиус первой координационной сферы — т\) (см. рис. 3.1); их угловое распределение относительно центрального атома, определяемое углами химических связей (валентных
углов <р).
Рассмотренное определение ограничивает ближний порядок первой координационной сферой. В то же время перечисленные выше параметры ближнего порядка определяют не только первую, но и, по крайней мере частично, вторую координационную сферу. Так, радиус второй координационной сферы Гг (рис. 3.1) определяется радиусом первой координационной сферы и милентным углам
r2 = 2r!sin(y>/2). (3.1)
Данное противоречие можно преодолеть, если от геометрических параметров ближнего порядка перейти к энергетическим параметрам взаимодействия между атомами [2]. Тогда в область ближнего
порядка включим атомы, взаимное расположение которых определяется наиболее сильными взаимодействиями. Для полупроводниковых материалов с преобладанием ковалентного типа химических связей наиболее сильные взаимодействия характеризуются длиной коналентной связи и валентным углом (энергии взаимодействия Vs и Vb на рис. 3.2). Таким образом, область ближнего порядка включает в себя атомы, входящие в первую координационную сферу, и те атомы из второй координационной сферы, положение которых по отношению к атому, принятому за центральный, определяется длиной и углом ковалентной связи.
Введение понятия ближнего порядка не позволяет полностью описать наблюдаемое в неупорядоченных системах локальное упорядочение в расположении атомов, так как оно не отвечает на вопрос, каким образом области ближнего порядка соединены друг с другом, и не объясняет значительную протяженность упорядоченных областей в некристаллических материалах.
Характеристики взаимного расположения атомов в случае линейной (а) и тетраэдрической (б) структуры.
|
Экспериментальные доказательства достаточно протяженных упорядоченных областей привели к введению понятия среднего порядка в расположении атомов в некристаллических материалах. Первыми попытками объяснения наличия среднего порядка можно считать различные микрокристаллитные и кластерные модели строения этих веществ (хотя исторически указанные модели возникли значительно раньше введения понятия о среднем порядке в расположении атомов). Согласно микрокристаллитной модели, предложенной в 1921 г. А.А.Лебедевым, некристаллический материал состоит из произвольно ориентированных структурно упорядоченных областей (микрокристаллитов), разделенных неупорядоченными прослойками.
|
Первоначально размеры микрокристаллитов предполагались достаточно большими (до 300 А). Однако дифракционные исследования показали , что кристаллитов размерами более 15—20 А в однородных некристаллических материалах не существует, а рефлексы от кристаллических областей с диаметром менее 20 А не могут обладать контрастностью, достаточной для наблюдения (за исключением образцов толщиной менее 40 А).
Таким образом, экспериментальные данные, с одной стороны, свидетельствуют об отсутствии
в однородных некристаллических материалах микрокристаллитов размерами более 15—20 А, а с другой стороны, не дают прямых подтверждений существования кристаллитов меньших размеров.
Вместе с тем переход к таким малым размерам кристаллитов вызывает серьезные трудности в использовании микрокристаллического приближения для интерпретации структуры некристаллических тел, так как с уменьшением размеров кристаллитов возрастает количество атомов, находящихся на их границах. В этом случае межкристаллитные неупорядоченные прослойки становятся не менее важными для описания структуры материала, чем расположение атомов внутри кристаллитов.
