- •Микроэлектроника
- •§ II.1.2. Виды химической связи между атомами
- •§ II.1.3. Равновесное, состояние решетки
- •§ II.1.4. Реальные кристаллы
- •Глава 2. Диффузионные процессы в твердых телах
- •§ II.2.1. Механизм диффузии
- •§ II.2.2. Математическая теория диффузионных процессов
- •§ II.2.3. Диффузия примесей в германии и кремнии
- •§ II.2.4. Окисление кремния
- •Глава 3. Зонная теория твердого тела
- •§ II.3.1. Уравнение Шредингера, для кристалла
- •§ II.3.2. Энергетические зоны
- •§ II.3.3. Зоны Бриллюэна
- •§ II.3.4. Степень заполнения энергетических зон
- •§ II.3.5. Энергетические уровни дефектов и примесей в полупроводниках
- •Глава 4 статистика носителей заряда в твердом теле
- •§ II.4.1. Функции распределения частиц по энергиям
- •§ II.4.2. Сравнение функций распределения
- •§ II.4.3. Концентрация носителей заряда в собственном и слабо легированном полупроводниках
- •§ II.4.4. Концентрация носителей заряда в сильно легированном полупроводнике и металле
- •Глава 5 явления переноса носителей заряда в твердом теле
- •§ II.5.1. Электропроводность полупроводников и металлов
- •§ II.5.2. Механизмы рассеяния и подвижность свободных носителей заряда
- •§ II.5.3. Особенности контактных явлений
- •Глава 6 оптические и фотоэлектрические явления в полупроводниках
- •Глава 7 схемотехника и технология производства имс
- •§ II.7.1. Представление об элементной базе
- •§ II.7.2. Основные принципы проектирования устройств
- •§ II.7.3. Основные критерии миниатюризации и оптимизации изделий микроэлектроники
- •§ II.7.4. Ограничения и проблемы электроники твердого тела
- •§ II.7.5. Ттл технология производства имс
- •§ II.7.6. Мдп технология производства имс
- •§ II.7.7. Бис - проблемы и ограничения
- •§ II.7.8. Конструкция имс. Материалы и виды обработки, применяемые при изготовлении имс
Глава 7 схемотехника и технология производства имс
§ II.7.1. Представление об элементной базе
и радиоэлектронной аппаратуре различных поколений
Начиная приблизительно с 1920 года каждое последующее десятилетие число элементов РЭА возрастает примерно на порядок.
Рис. 1. Рост количества электрорадиоэлементов бортовой аппаратуры
Элементная база 40-50-х основывалась на электровакуумных приборах, электромеханических коммутационных элементах и объемном монтаже. РЭА отличалась большими габаритами, большой массой и малой надёжностью.
Таблица 1
Покол РЭА |
Эл. мех. элем |
Эл. тр. элем |
П/п пр |
Объем. монт |
Печ. монт |
Мо- дули |
Мик. мод |
ИС
|
БИС |
Печатные платы |
Пл. упак, эл /дм³ |
|
1и2ст |
МПП |
|||||||||||
Перв |
+ |
+ |
- |
+ |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
- |
1,5·10² |
Втор |
± |
± |
+ |
± |
- |
+ |
- |
- |
- |
± |
- |
5·10² |
Трет |
- |
- |
± |
± |
+ |
- |
+ |
+ |
± |
± |
+ |
1,5·10³ |
Четв |
- |
- |
- |
- |
± |
- |
± |
± |
+ |
- |
+ |
104-105 |
Переход к твердотельной электронике применительно к элементной базе РЭА второго поколения открыл перспективы улучшения массогабаритных характеристик, повышения её надежности и ознаменовал собой начало эпохи миниатюризации РЭА.
Переход к микроэлектронике в элементной базе третьего поколения привел к изменению основополагающих принципов проектирования и производства РЭА.
Переход к элементной базе четвертого поколения на основе ИС ознаменовал переход микроэлектроники на аппаратурный уровень и очередной переход к изменениям основополагающих принципов проектирования уже микроэлектронной аппаратуры.
Различают следующие структуры микроэлектронной аппаратуры:
- на базе ИМС в корпусах, размещённых на печатных платах (первая ступень интеграции);
- на базе ИМС повышенной степени интеграции с частичным использованием БИС (вторая ступень интеграции);
- с использованием многокристальных ИМС, в том числе с большим числом компонентов (третья ступень интеграции);
- укомплектованной БИМС, выполненными на базе бескорпусных микросхем (четвертая ступень);
- скомпонованной на бескорпусных больших ИМС (в том числе гибридных), смонтированных в общем корпусе (пятая ступень интеграции);
- выполненной в виде «непрерывной микросхемы», в которой большие ИМС непосредственно соединяются между собой без применения соединительных плат (шестая ступень интеграции).
