- •Микроэлектроника
- •§ II.1.2. Виды химической связи между атомами
- •§ II.1.3. Равновесное, состояние решетки
- •§ II.1.4. Реальные кристаллы
- •Глава 2. Диффузионные процессы в твердых телах
- •§ II.2.1. Механизм диффузии
- •§ II.2.2. Математическая теория диффузионных процессов
- •§ II.2.3. Диффузия примесей в германии и кремнии
- •§ II.2.4. Окисление кремния
- •Глава 3. Зонная теория твердого тела
- •§ II.3.1. Уравнение Шредингера, для кристалла
- •§ II.3.2. Энергетические зоны
- •§ II.3.3. Зоны Бриллюэна
- •§ II.3.4. Степень заполнения энергетических зон
- •§ II.3.5. Энергетические уровни дефектов и примесей в полупроводниках
- •Глава 4 статистика носителей заряда в твердом теле
- •§ II.4.1. Функции распределения частиц по энергиям
- •§ II.4.2. Сравнение функций распределения
- •§ II.4.3. Концентрация носителей заряда в собственном и слабо легированном полупроводниках
- •§ II.4.4. Концентрация носителей заряда в сильно легированном полупроводнике и металле
- •Глава 5 явления переноса носителей заряда в твердом теле
- •§ II.5.1. Электропроводность полупроводников и металлов
- •§ II.5.2. Механизмы рассеяния и подвижность свободных носителей заряда
- •§ II.5.3. Особенности контактных явлений
- •Глава 6 оптические и фотоэлектрические явления в полупроводниках
- •Глава 7 схемотехника и технология производства имс
- •§ II.7.1. Представление об элементной базе
- •§ II.7.2. Основные принципы проектирования устройств
- •§ II.7.3. Основные критерии миниатюризации и оптимизации изделий микроэлектроники
- •§ II.7.4. Ограничения и проблемы электроники твердого тела
- •§ II.7.5. Ттл технология производства имс
- •§ II.7.6. Мдп технология производства имс
- •§ II.7.7. Бис - проблемы и ограничения
- •§ II.7.8. Конструкция имс. Материалы и виды обработки, применяемые при изготовлении имс
§ II.7.7. Бис - проблемы и ограничения
Преимущества МДП БИС
Экономические факторы:
Меньшая себестоимость (повышенная надежность и лучшая ремонтопригодность)
Меньшая начальная стоимость
Меньшая сложность технологии и меньшие размеры
Возможность автоматизации процесса проектирования.
Рабочие характеристики:
Возможность разработки систем с улучшенными характеристиками при меньших затратах
Более высокая надежность и ремонтопригодность систем
Относительная простота разработки МДП БИС с заданными параметрами.
Экономические факторы:
Большие затраты на разработку при ограниченном объеме выпуска.
Высокий уровень затрат на внесение изменений в схему.
Большие затраты на проверку сложных логических схем.
Высокая стоимость приемлемых корпусов.
Незначительное влияние на общую себестоимость системы.
Рабочие хаорактеристики:
Меньшее быстродействие в сравнении с биполярными.
Методы, используемые для устранения ограничений на параметры МДП-схем, усложняют другие блоки системы.
Высоковольтные МДП-схемы отличаются плохой совместимостью с существующими биполярными схемами.
Коммерческие факторы:
Отсутствие четкого разделения между сферами ответственности заказчика и изготовителя.
Соотношение между объемами заказной и стандартной продукции.
Длительные сроки разработки заказной МДП БИС.
§ II.7.8. Конструкция имс. Материалы и виды обработки, применяемые при изготовлении имс
В настоящее время для изготовления ИМС наиболее широко применяют кремний (Si) благодаря наличию совместимого окисла (SiO2) и хорошей теплопроводности.
Типовая конструкция ИМС показана на рисунке.
Рис. 3. Типовая конструкция ИМС:
1 – крышка корпуса; 2 – проволочный вывод; 3 – Кристалл кремния; 4 – траверса (продолжение внешнего вывода); 5 металлический ободок; 6 – диэлектрическое основание корпуса; 7 – внешний вывод корпуса; 8 – контактная площадка кристалла; 9 металлическая разводка
Основой ИМС является монокристалл кремния 3. Для изготовления ИМС применяют круглые пластины кремния диаметром до 150 мм и толщиной 0,2 – 0,8 мм. В зависимости от сложности, степени интеграции, рассеиваемой мощности размеры кристаллов могут составлять от 0,8Х1 до 4Х5 мм и даже 10Х12 мм по площади. Кристаллы ИМС формируют в виде квадратов или прямоугольников, расположенных равномерно по всей площади пластины. Формирование внутренней структуры кристаллов ИМС производят групповым способом. То есть на одной пластине формируется одновременно от 150 до 900 и даже более 20000 кристаллов ИМС.
В кристалле кремния в виде локальных областей сформированы элементы электрической схемы (размером 2–5 мкм), которые с помощью металлической разводки 9 (ширина дорожки металлизации 2-3 мкм) объединены в законченную электрическую схему, способную выполнять определенные функции.
(около1015 Ом при комнатной температуре) и очень слабо меняется даже при повышенных температурах. Символы для схематического изображения МДП – транзисторов, приведены на рисунке. Любая схема с р-канальными МДП – транзисторами может быть пригодна и для n-канальных транзисторов при простой замене поляр-
