- •Глава 6. Основные характеристики средств микропроцессорной техники 82"
- •Глава 8. Структуры и алгоритмы аналого-цифровой части иис . . 126-
- •Глава 9. Измерительно-вычислительные комплексы 143
- •Глава 10. Системы измерения независимых входных величин . . . 153"
- •Глава 11. Многомерные и аппроксимирующие и с 172
- •Глава 12. Статистические измерительные системы 182'
- •Глава 13. Теоретические основы автоматического контроля . . . . 216-
- •Глава 14. Системы автоматического допускового контроля .... 242
- •1.1. Основные определения. Области применения иис
- •Глава 1
- •1.2. Обобщенная структурная схема иис
- •1.3. Описание функционирования иис. Содержательные логические схемы алгоритмов
- •Глава 2
- •2.1. Разновидности входных величин
- •2.2. Разделение иис по виду выходной информации
- •2.3. Классификация иис по принципам построения. Роль эвм
- •Глава 3
- •3.1. Государственная система приборов. Основные положения
- •3.2. Агрегатный комплекс средств электроизмерительной техники
- •Глава 4
- •4.1. Индикация в иис
- •4.2. Запись и хранение информации в иис
- •Глава 5
- •5.1. Основные разновидности структур и интерфейсов
- •5.2. Протоколы и типовые алгоритмы обмена информацией
- •5.3. Интерфейс с последовательным выполнением операций обмена информацией
- •5.4. Приборный стандартный интерфейс
- •5.5. Интерфейс камак
- •5.6. Интерфейсы периферийной части эвм
- •5.7. Сопоставление алгоритмов стандартных интерфейсов
- •5.8. Об аналоговых интерфейсах измерительной части иис
- •Глава 6
- •6.1. Эвм и средства микропроцессорной техники в иис
- •6.2. Микро-эвм
- •6.3. Микропроцессоры
- •6.5. Программируемые клавишные эвм
- •6.6. Табличные методы преобразования информации
- •Глава 7
- •7.2. Унифицирующие преобразователи
- •7.3. Измерительные коммутаторы амплитудно-модулированных сигналов
- •7.4. Защита входных измерительных цепей иис от помех
- •Глава 8
- •8.1. Основные структуры аналого-цифровой части
- •8.2. Алгоритмы функционирования аналого-цифровой части иис
- •Глава 9
- •Глава 10
- •10.1. Основные разновидности систем измерения независимых входных величин
- •10.2. Многоточечные ис с резистивными датчиками
- •10.3. Мультиплицированная ис с термопарами
- •10.4. Сканирующие системы для расшифровки графиков
- •10.5. Акустическая система для измерения координат графических изображении
- •10.6. О голографических измерительных системах
- •Глава 11
- •11.1. Многомерные ис (системы для раздельного измерения взаимосвязанных величин)
- •11.2. Аппроксимирующие ис
- •Глава 12
- •12.1. Особенности измерения статистических характеристик случайных процессов
- •12.2. Системы для измерения законов распределения вероятностей случайных процессов
- •12.3. Корреляционные измерительные системы
- •12.4. Спектральные измерительные системы
- •13.1. Функция и основные видь! систем автоматического контроля
- •13.2. О выборе контролируемых величин и областей их состоянии
- •13.3. Ошибки контроля
- •13.4. Объем выборки при контроле
- •13.5. Организация статистического контроля
- •13.6. Дискретизация непрерывной контролируемой величины
- •13.7. Оценка эффективности и стоимости систем автоматического контроля
- •Глава 14
- •14.1. Каналы контроля
- •14.3. Системы автоматического контроля параллельного и последовательного действия
- •114,4. Системы автоматического контроля с общей образцовой величиной
- •14.5. Основные алгоритмы работы систем параллельно-последовательного действия
- •14.6. Системы автоматического контроля параллельно-последовательного действия
- •XI (iMxHi) I (ch : kAxa!, || Дси, Ac2i) ]} X
- •Глава 15
- •Глава 17
- •17.1. Особенности и основные характеристики телеизмерительных систем
- •17.2. Линии связи 1
- •17.3. Разделение сигналов в тис
- •Глава 18
- •18.1. Аналоговые тис
- •18.2. Цифровые тис (системы с кодоимпульсными сигналами]
- •18.3. Об адаптивных тис
- •18.4. Краткий обзор основных характеристик промышленных тис
- •Глава 19
- •19.1. Стадии проектирования иис
- •19.2. О проектировании программного обеспечения иис
- •19.3. Об автоматизации системотехнического проектирования
- •19.4. Учебное задание на системотехническое проектирование
- •20.1. Критерии оценки погрешностей измерения входной величины
- •20.2. Оценка полной погрешности
- •20.3. О распределении погрешностей между звеньями системы
- •20.4. О погрешностях квантования по уровню и округления при вычислениях
- •20.5. Информационные оценки
- •Глава 21
- •21.1. Определение интервалов равномерной дискретизации
- •21.2. Об адаптивной дискретизации
- •21.3. Оценка времени измерительных преобразований аналоговой части
- •21.4. Оценка времени работы цифровой части иис. Выбор эвм по быстродействию
- •Глава 22
- •22.1. Общие положения
- •22.2. Нормируемые метрологические характеристики ис
- •22.3. Технические средства метрологических поверок
- •22.4. Автоматическая коррекция погрешностей ис
- •Глава 23
- •23.1. Оценка эффективности иис
- •23.2. Планирование измерительных экспериментов
19.3. Об автоматизации системотехнического проектирования
Системы автоматизированного проектирования (САПР) должны привести к резкому уменьшению затрат на проектирование систем и улучшению их качества. Системы автоматизированного проектирования базируются обычно на применении ЭВМ (СМ-3, «Наири-2» и др.), обладающих большой памятью, оснащенных устройствами ввода и вывода графической и алфавитно-цифровой информации для осуществления диалогового режима проектировщика с ЭВМ. Важной и, пожалуй, определяющей возможности САПР проблемой является соответствующее ПО.
Автоматизация схемотехнического проектирования, включающая проектирование электронных схем, размещение элементов схем на платах, модулях, БИС и трассировку соединений между ними, расчет конструкций элементов и т. п., уверенно и эффективно применяется на практике [19.3, 19.4, 19.12].
Серьезные результаты получены при проектировании логических схем применительно к проектированию ЭВМ [19.5].
Имеются программы, позволяющие проводить в диалоговом режиме расчеты и конструктивную разработку некоторых типов датчиков, используемые в учебных целях. Системотехническое проектирование ИВК и ИИС, связанное с обоснованием в первую очередь метрологических характеристик ТЗ на проектирование системы или комплекса, охватывает большое количество разнообразных методик.
В последующих главах рассматриваются необходимые для обоснования ТЗ методы анализа точностных и временных характеристик ИИС.
Остановимся на важном этапе системотехнического проектирования — формировании технического предложения на проектируемую систему. Рассматривать структуры и алгоритмы, позволяющие выполнить ТЗ на проектирование системы, следует на основе материала, изложенного в соответствующих разделах книги. Отметим, что это рассмотрение и выбор наилучших вариантов структу-
ры и алгоритмов системы производятся большей частью неформализованным путем.
Если структура и алгоритм работы системы выбраны, то может быть формально поставлена задача определения набора устройств из числа устройств, выпускаемых промышленностью (например, входящих в агрегатные комплексы ГСП) и совместимых между собой. Решение этой задачи определяет суть метода проектной компоновки систем.
Остановимся на одном из формальных путей постановки и решения задачи проектной компоновки системы.
Положим, определено, что проектируемая система должна выполнить множество операций получения, преобразования, передачи и выдачи измерительной информации А~(щ, ..., щ, ..., ая). Каждая /-я операция характеризуется заданным качеством выполнения а;-=(а/,, ..., ац, ..., а/т).
Имеется совокупность устройств В=(Ь\, ..., bi, ..., bL), характеризующихся параметрами р/(рл, —, Р/«, ■•-, (W, Q) (здесь Ci—стоимость). Устройство bi может выполнить операцию щ, если {Рк^а;/}*=1,.... т. Таким образом, на множестве АуСВ задано отношение выполнимости операций множества А устройствами из Я. В матрице АУ(В=\\хц\\ #«=1, если bi выполняет операцию щ с заданным качеством, и л',7=0 в противоположном случае. Условием выполнимости всех операций из А подмножествами устройств Bq (их может быть несколько), содержащими bi, является хц=\ для всего множества А. Затем определяется такой набор {bi}—Bq, для которого, положим, суммарная стоимость будет минимальной: 5(£д)=гщп2Сг.
Рис. 19.1. Структура ИС
Далее приводится упрощенный пример комплектации простейшей измерительной системы с тензорезисторами и термопарами, которая должна измерять 20 раз в секунду показания 100 датчиков с погрешностью (без учета погрешности датчиков) ±0,5%, диапазоны измерения температур от +50 до +300 °С, деформации ej+100-Ю"-5 относительных единиц; должно быть обеспечено подавление помех на частоте 50 Гц для тензометрии не менее 40 дБ и для измерения температур (сигналы термопар Е) не менее 100 дБ. Была выбрана многоточечная структура ИС (рис. 19.1), в которой выполняется следующий алгоритм работы:
*(i = 0) {[1(в1/Д^1)||...||1(в//Л^/)1к-Р4-и./Д^1Л1|[1(Л/е,)11-Х Х||1(7,1/е/)||...||1(Г10в/е1Л}|гФв(1:=г + 1){[1({Л«}/ЛЛ/)Х
X I (ДЯ,/Ди,) I (A",/A"iH)] II <I {ЩЬим)>} {Ф0 [Кл (в)] X XI [Au,:/zi (в)] I [S:zt (в)]} | {Ф0 [Кл (Т)] X
XI [A"/Br/z, (Г)] I [S:Zi (Г)]} со (i = 100) П Ф (Е).
В табл. 19.1 представлен упрощенный пример матрицы IUhII, показывающий выполнение операций (столбцы) устройствами из комплекса АСЭТ ГСП (строки). Из решения взвешенной задачи покрытия, в которой стоимость устройств является весом строки в матрице ||#,-/||, был выбран набор, состоящий из вольтметра В2-22 и коммутатора Ф7100, обладающий стоимостью Csi и наименьшим количеством типов устройств.
Возможен вариант с цифровым мостом (для тензодатчиков) и вольтметром для измерения ЭДС термопар, однако в этом случае
В наборе табл. 19.1 остается непокрытым столбец, соответствующий преобразованию приращения сопротивления тензодатчи-ка в напряжение о погрешностью ±0,1%. Такое устройство нужно проектировать отдельно.
Следует подчеркнуть, что для большинства проектируемых систем реальные матрицы \\хи\\ имеют относительно большую размерность. В связи с развитием ГСП количество устройств увеличивается, а следовательно, усложняются процедуры проектной компоновки систем.
Таблица 19.1. Матрица выполнения проектируемых, преобразований устройств
Устройства ГСП |
|
|||||||
|
Модель |
Относительная стоимость, с1 |
Pi, % |
3>, мс |
Рз, ДБ |
Тензо |
||
|
I ({ДК}/ДЙ.) |
I (uK./uUe) |
|
|||||
Назначение |
"i=±0,5% |
«i= ±0,1% |
|
|||||
|
as=40мс |
- |
|
|||||
|
- |
- |
|
|||||
Коммутатор АЦП Вольтметр |
Ф799-1 Ф7100 Ф240/3 Ф4833 Ф4892 Ф4890 Ф4891 Щ6800-1 Щ1516 В2-22 |
3,0 1,3 1,9 2,7 2,0 1,7 2,5 4,4 3,6 3,3 |
+0,2 ±0,1 +0,05 +0,05 +0,05 +0,08 +0,1 +0,08 +0,01 +0,025 |
1 1,6 20 40 I 10 0,2 40 40 20 |
8Э 40 60 40 |
I I 1 |
|
|
Описанный путь определения набора функциональных блоков может применяться только тогда, когда жестко заданы выполняемые операции и параметры каждой из них, а следовательно, и требования к характеристикам выбираемых устройств.
Важной является задача подбора устройств, позволяющих при работе в совокупности обеспечить заданные характеристики. Положим, заданы: множество операций А=(аи а2, ■-, щ, ..., aN), которые должны быть выполнены системой; множество устройств, выпускаемых промышленностью B=(bi, b2, ..., Ы, ..., Ьъ), и их стоимости (Сь С2, ..., Ci, ..., Ct), суммарная погрешность б2, время выполнения всех операций fa, рабочий диапазон D. Для каждого устройства bi должны быть известны функции, которые оно выполняет, Di, ti и 6г.
Необходимо выбрать все bi, выполняющие заданные функции {а/} в диапазоне D с погрешностью и быстродействием 6*<6z, ti<Lh. Затем следует произвести оценку погрешности и быстродействия при соединении между собой устройств Ъи оставляя лишь варианты наборов, у которых погрешность и быстродействие не превышают заданных значений.
Во ВНИИЭП был предложен метод прототипного проектирования специализированных ИВК, который позволяет более полно, чем в ИВК широкого применения, учитывать запросы заказчиков. Метод прототипного проектирования заключается в выделении из прототипной системы, обладающей максимально возможной на данное время конфигурацией и набором входящих в нее функциональных блоков и программ, необходимой структуры и программ, удовлетворяющих требованиям ТЗ на конкретную разработку. Затем предусматривается доработка оперативного ПО, проведение испытаний, анализ характеристик сформированного ИВК. его мет-
вами ГСП
Выполнение СЛСА
|
измерения |
|
|
Термоизм ерения |
|
|
I (д17. /Д£/Нг) |
1(д£/н./гЕ) |
I <{«т/*т£}> |
I (ет//Д17н. т) |
I (^н.т/гт> |
|
»i= ±0,1% |
а1= ±0,г,% |
<*,= ±0,5% |
щ= ±0,1% |
«i= ±0,5% |
|
- |
ав=40 МС |
о.2=40 мс |
— |
а2=40 мс |
|
- |
а8=40 дБ |
— |
- |
а3=40 дБ |
|
1 1 1 |
|
1 1 |
1 ] 1 |
|
рологическая экспертиза и др. В результате этих работ должны ■быть определены структура и оперативное ПО разрабатываемого варианта ИВК.
На рис. 19.2 приведена схема реализованной во ВНИИЭП про-тотипной системы. На этом рисунке АДС1 и АДС2—адаптеры дистанционной связи, позволяющие соединить ЭВМ СМ-4 с микро-ЭВМ «Электроника-60» на расстоянии до 1 км коаксиальным кабелем и с микро-ЭВМ с устройствами измерительными, ввода и вывода информации на 500 м витой телефонной парой. К микро-
<■
'
СР СМ-4
ж
^
АДС1
ИФУ КАМАК
ил
СР
it
ИФУ
пм
I I
СР СМ-1800
Л
АДС1
С
a-bus
■> с
U-41
^>
<
JL
ип
СР
-8. к
a-bus >
ип
ИФУ
пм
ип
АДС2
kL
АДС2
ип
ип
ИФУ
пм
Рис. 19.2. Прототипная система:
АДС 1, АДС 2 — адаптеры дистанционной связи; ИФУ КАМАК и ИФУ ПМ—интерфейсные узлы стандарта КАМАК и приборной магистрали; ИП — измерительные подсистемы
ЭВМ могут быть подключены дисплей типа ВТА, АЦПУ типа DZM, накопители на магнитной ленте, многоточечные системные •аналого-цифровые устройства (до 105 преобраз./с), коммутатор на •64 точки (10 кГц, 1 В, 0,1%), таймер, интерфейсные устройства для связи с СМ-3 и СМ-4, ЭВМ «Электроника 100/25», с крейтом ■стандарта КАМАК, с приборной магистралью и др.
Создание таких прототипных систем целесообразно для обслуживания отрасли. Можно утверждать, что с их использованием ■могут быть резко сокращены сроки, достигнута большая проработанность и завершенность проектирования ИВК.
Рассмотрим еще некоторые вопросы, связанные с автоматизацией проектирования. Безусловно, целесообразно проводить работу по созданию банков типовых структур, алгоритмов и математических моделей, программ анализа и синтеза, имитационного моделирования систем. Особенно это полезно для АСУ ТП [19.6], имеющих много типовых решений. Имеется подготовленная систе-
ма поискового конструирования, базирующаяся на использовании банков физических эффектов и технических решений [19.7]. Представляется интересным распространение идей поискового конструирования на проектирование систем.
Известны исследования, направленные на создание общих методологических основ автоматизации проектирования средств измерения [19.8].
