- •Глава 6. Основные характеристики средств микропроцессорной техники 82"
- •Глава 8. Структуры и алгоритмы аналого-цифровой части иис . . 126-
- •Глава 9. Измерительно-вычислительные комплексы 143
- •Глава 10. Системы измерения независимых входных величин . . . 153"
- •Глава 11. Многомерные и аппроксимирующие и с 172
- •Глава 12. Статистические измерительные системы 182'
- •Глава 13. Теоретические основы автоматического контроля . . . . 216-
- •Глава 14. Системы автоматического допускового контроля .... 242
- •1.1. Основные определения. Области применения иис
- •Глава 1
- •1.2. Обобщенная структурная схема иис
- •1.3. Описание функционирования иис. Содержательные логические схемы алгоритмов
- •Глава 2
- •2.1. Разновидности входных величин
- •2.2. Разделение иис по виду выходной информации
- •2.3. Классификация иис по принципам построения. Роль эвм
- •Глава 3
- •3.1. Государственная система приборов. Основные положения
- •3.2. Агрегатный комплекс средств электроизмерительной техники
- •Глава 4
- •4.1. Индикация в иис
- •4.2. Запись и хранение информации в иис
- •Глава 5
- •5.1. Основные разновидности структур и интерфейсов
- •5.2. Протоколы и типовые алгоритмы обмена информацией
- •5.3. Интерфейс с последовательным выполнением операций обмена информацией
- •5.4. Приборный стандартный интерфейс
- •5.5. Интерфейс камак
- •5.6. Интерфейсы периферийной части эвм
- •5.7. Сопоставление алгоритмов стандартных интерфейсов
- •5.8. Об аналоговых интерфейсах измерительной части иис
- •Глава 6
- •6.1. Эвм и средства микропроцессорной техники в иис
- •6.2. Микро-эвм
- •6.3. Микропроцессоры
- •6.5. Программируемые клавишные эвм
- •6.6. Табличные методы преобразования информации
- •Глава 7
- •7.2. Унифицирующие преобразователи
- •7.3. Измерительные коммутаторы амплитудно-модулированных сигналов
- •7.4. Защита входных измерительных цепей иис от помех
- •Глава 8
- •8.1. Основные структуры аналого-цифровой части
- •8.2. Алгоритмы функционирования аналого-цифровой части иис
- •Глава 9
- •Глава 10
- •10.1. Основные разновидности систем измерения независимых входных величин
- •10.2. Многоточечные ис с резистивными датчиками
- •10.3. Мультиплицированная ис с термопарами
- •10.4. Сканирующие системы для расшифровки графиков
- •10.5. Акустическая система для измерения координат графических изображении
- •10.6. О голографических измерительных системах
- •Глава 11
- •11.1. Многомерные ис (системы для раздельного измерения взаимосвязанных величин)
- •11.2. Аппроксимирующие ис
- •Глава 12
- •12.1. Особенности измерения статистических характеристик случайных процессов
- •12.2. Системы для измерения законов распределения вероятностей случайных процессов
- •12.3. Корреляционные измерительные системы
- •12.4. Спектральные измерительные системы
- •13.1. Функция и основные видь! систем автоматического контроля
- •13.2. О выборе контролируемых величин и областей их состоянии
- •13.3. Ошибки контроля
- •13.4. Объем выборки при контроле
- •13.5. Организация статистического контроля
- •13.6. Дискретизация непрерывной контролируемой величины
- •13.7. Оценка эффективности и стоимости систем автоматического контроля
- •Глава 14
- •14.1. Каналы контроля
- •14.3. Системы автоматического контроля параллельного и последовательного действия
- •114,4. Системы автоматического контроля с общей образцовой величиной
- •14.5. Основные алгоритмы работы систем параллельно-последовательного действия
- •14.6. Системы автоматического контроля параллельно-последовательного действия
- •XI (iMxHi) I (ch : kAxa!, || Дси, Ac2i) ]} X
- •Глава 15
- •Глава 17
- •17.1. Особенности и основные характеристики телеизмерительных систем
- •17.2. Линии связи 1
- •17.3. Разделение сигналов в тис
- •Глава 18
- •18.1. Аналоговые тис
- •18.2. Цифровые тис (системы с кодоимпульсными сигналами]
- •18.3. Об адаптивных тис
- •18.4. Краткий обзор основных характеристик промышленных тис
- •Глава 19
- •19.1. Стадии проектирования иис
- •19.2. О проектировании программного обеспечения иис
- •19.3. Об автоматизации системотехнического проектирования
- •19.4. Учебное задание на системотехническое проектирование
- •20.1. Критерии оценки погрешностей измерения входной величины
- •20.2. Оценка полной погрешности
- •20.3. О распределении погрешностей между звеньями системы
- •20.4. О погрешностях квантования по уровню и округления при вычислениях
- •20.5. Информационные оценки
- •Глава 21
- •21.1. Определение интервалов равномерной дискретизации
- •21.2. Об адаптивной дискретизации
- •21.3. Оценка времени измерительных преобразований аналоговой части
- •21.4. Оценка времени работы цифровой части иис. Выбор эвм по быстродействию
- •Глава 22
- •22.1. Общие положения
- •22.2. Нормируемые метрологические характеристики ис
- •22.3. Технические средства метрологических поверок
- •22.4. Автоматическая коррекция погрешностей ис
- •Глава 23
- •23.1. Оценка эффективности иис
- •23.2. Планирование измерительных экспериментов
19.4. Учебное задание на системотехническое проектирование
Особенности системотехнического проектирования удобно рассмотреть на примере.учебного задания на проект ИИС (это учебное задание выдается студентам старшего курса). Заданы условия на проведение измерительного эксперимента. Необходимо составить, обосновать и согласовать с заказчиком техническое задание на проектируемую разновидность ИИС, разработать основную часть технического предложения по реализации сформулированного ТЗ, включая компоновочное проектирование, и защитить его.
Исходные технические условия на проведение измерительного эксперимента
Необходимо произвести количественную оценку параметров исследуемой величины (температуры, перемещения, деформации), распределенной по плоскости и изменяющейся во времени x(h, k, t). Известными являются динамический диапазон, наибольшее изменение величины на единицу длины (Дх/Д/)шах и
ix(iulz,t)
iT+Xrnox_ _ JZUijlz, t-ti-At)
—A£-)r~u
—)
/ / / /
/Г х(1ф^1) /]/
Jf—Z^-T
<-Z\ -
/
.У
iz
-Рис. 19.3. Исследуемая величина
+Длр уЛ |
|
|
|||
-hnpyS |
№ |
|
|||
|
Hi |
|
oimin |
||
|
|
|
'Zmin |
||
м
х-, _(Ax\
max
Рис 19.4. К определению пространственной частоты
наибольшая частота изменения fmaX исследуемой величины. На рис. 19.3 показаны состояния исследуемой величины в моменты времени t{ и У,-}-Д£. С определенной погрешностью можно считать, что в течение времени At состояние входной величины не изменилось.
Для распределенной в пространстве величины иногда (например, для спектрального ее анализа) вводится понятие пространст-
венной частоты, оценивающей количество периодов изменения этой .величины, приходящееся на единицу длины. Если заданы (Ах/Ы)max и абсолютная погрешность квантования исследуемой величины по пространству ±Дпр, то в этом случае наибольшая пространственная частота, 1/м,
(fl)max=ll (Tl)min== (АЛГ/Д/)таЛ/2(±Дпр) .
За исключением особо оговариваемых случаев, можно считать, что исследуемые величины обладают стационарными и эргодиче-■скими свойствами, подчинены нормальному закону распределения вероятностей, корреляционная функция исследуемой величины •близка к экспоненциальной.
Наименьший период изменения исследуемой величины (Ti)min= — (2*Si)min показан на рис. 19.4.
Количественные характеристики исследуемых величин приводятся ниже в табл. 19.2.
Таблица 19.2. Характеристики исследуемых величии
Исследуемая величина |
Динамический диапазон |
№ |
Максимальное приращение на единицу длины |
Максимальная частота изменения, ГЦ |
Температура |
— 100-=-100 °С |
IXI |
50°С,.м |
0,2 |
Температура |
5Э0—1500 °С |
5X5 |
303° С/м |
5 |
Температура |
0—1000 е С |
10X10 |
150°С/м |
I |
Деформация |
—10~Зч- +Ю~~3 мм мм |
'XI |
2- Ю-"3 (mm;mm)/m |
10 |
Перекещение |
0—100 мм |
5X5 |
20 мм/м |
5 |
Перемещение |
— ЮОС-н+ЮОО мм |
юхю |
200 мм/м |
I |
При проектировании нужно учесть, что разность потенциалов между точками заземления исследуемого объекта и измерительной ■части может достигать 0,5 В, кроме того, имеются поперечные помехи высокого уровня.
Необходимо определить следующие параметры x(l\, /2, t):
X — минимальное (сжатое) количество дискрет х{1\, U, I), описывающих распределенную по плоскости величину в заданное время ti\
Хп — координаты изопараметрических кривых для заданного tt зи изменяемых уровней анализа, количество уровней анализа не менее 32;
Хэ — координаты и значения общих экстремумов при фиксированном ti,
Х,пах — координаты и максимальные значения для интервала времени &T=Nlfmax;
Мх{1), Mx{t) — математическое ожидание нестационарных случайных процессов по пространству и во времени;
Dx(l), Dx(t)—дисперсию нестационарных случайных процессов по пространству и во времени;
fi(x)> ft{x)—дискреты одномерной плотности распределения вероятностей пространственной кривой и функции времени;
Rx(Al), Rx(x)—коэффициенты корреляции пространственной кривой и функции времени;
Rxix2(&l), Rx\x2(t)—коэффициенты взаимной корреляции пространственных кривых и функций времени;
Gx(fi), Gx(f)—дискреты спектральной плотности мощности;
K(l, t) —координаты исследуемой величины, вышедшие за пределы установленной зоны, в зависимости от времени выхода t.
Желательно провести определение указанных параметров с погрешностью 6i = ±0,5% или б2=±1,5%.
Расстояние между объектом исследования и оператором: Li= = 50 м, Z,2 = 50 км (проводной канал связи), L3;=100 км (радиоканал).
Индивидуальные задания содержат название исследуемой величины, цель измерения, погрешность и расстояние L. Например, индивидуальное задание Д, X, 6i, L2 предусматривает проектирование телеизмерительной системы, предназначенной для измерения и передачи минимального (сжатого) количества значений деформаций и соответствующих координат в ограниченное время с погрешностью не более ±0,5%.
Указания к разработке технического задания на проектируемую систему
Техническое задание на проектируемую систему разрабатывается на основании анализа исходных технических условий на измерительный эксперимент, а также дополнительных данных, которые при необходимости могут быть получены у заказчика. Если трудно выполнить заданные условия на современном техническом уровне, то необходимо представить предложения по их изменению.
Погрешности результата измерений определяются совокупностью методических погрешностей, зависящих от характера исследуемой величины и применяемых методов и средств измерения, а также погрешностей проектируемой системы.
К основным источникам методических погрешностей результата измерения какого-либо параметра пространственно распределенной величины можно, например, отнести:
расстояние ^между точками измерения, зависящее от погрешности квантования по пространству;
интервал времени, в течение которого исследуемая величина с выбранной погрешностью может считаться постоянной;
ограниченность объема выборки дискрет исследуемой величины,
дискрет искомой характеристики (корреляционной функции, плотности распределения вероятностей и т. .п.).
Естественно, значение методической погрешности результата измерения будет различным в зависимости от конкретных особенностей измерительного эксперимента. Для того, чтобы ее можно было оценить, в ТЗ необходимо привести соответствующие характеристики проектируемой системы (минимальное расстояние между точками измерения, время измерения, количество точек измерения и объем выборки дискрет исследуемой величины, количество дискрет искомой характеристики и т. п.). Если по каким-либо веским основаниям выбранные характеристики проектируемой системы отличаются от расчетных (например, количество точек измерения сокращено до практически выполнимого), в пояснительной записке к ТЗ должны быть приведены значения связанных с этими характеристиками методических погрешностей.
Кроме этих характеристик в ТЗ должна быть представлена погрешность измерения собственно проектируемой системы. Эта погрешность будет определяться погрешностями датчиков, измерительных цепей и всех иных аналоговых и цифровых измерительных преобразователей, входящих в систему. Особо следует оговориться, что методические погрешности, связанные с использованием датчиков, могут включаться в ТЗ по согласованию с заказчиком. Если они не включены, это должно быть указано в ТЗ.
Методические указания к разработке технического предложения на проектируемую систему
При разработке технического предложения целесообразно придерживаться определенной последовательности, приводимой ниже.
Распределить заданную погрешность и время измерения между основными преобразованиями в системе.
Провести сравнение датчиков, имеющих технические характеристики, необходимые для восприятия и преобразования в измерительный сигнал исследуемых величин. Выбрать датчики, обладающие лучшими характеристиками [7.14].
Рассмотреть измерительные схемы, позволяющие получить необходимую измерительную информацию, предусмотреть меры по уменьшению влияния продольных и поперечных помех до допустимого уровня.
Произвести уточнение произведенного ранее распределения точностных и временных характеристик между преобразованиями, выполняемыми в системе.
Рассмотреть варианты структур систем, различающиеся по следующим признакам:
а) алгоритму сбора информации (параллельный, последова тельный, параллельно-последовательный, мультиплицированный принципы);
б) аппаратурной (специализированной) или программной об работке информации;
в) виду используемого интерфейса (КАМАК, приборный, по следовательный) ;
г) виду модуляции сигнала в канале связи.
При сравнении вариантов нужно составить структурные схемы и (при необходимости) алгоритмы работы систем, оценить полноту удовлетворения ими заданных технических характеристик. Выбранный вариант системы должен иметь наименьшие сложность и трудоемкость изготовления.
Если ни один из вариантов системы не удовлетворяет заданным техническим характеристикам, то следует выбрать вариант, наиболее приближающийся к их удовлетворению. В этом случае нужно обосновать, предложить и согласовать соответствующее изменение ТЗ.
После выбора варианта системы нужно выполнить его проработку, включающую:
составление развернутой структурной схемы системы в принятых обозначениях с указанием наименования типовых выпускаемых промышленностью функциональных блоков, их динамических диапазонов и погрешностей; в случае если функциональный узел не выпускается промышленностью, то составляются его технические характеристики;
составление СЛСА выбранного варианта системы с выделением на ней выполняемых программным способом преобразований, а также времени выполнения основных операторов; желательно составить СЛСА по обмену информацией между функциональными блоками в принятом интерфейсе.
В заключение отметим, что разработка технического предло жения производится лишь после согласования ТЗ (следует сказать, что в процессе выполнения технического предложения может встретиться необходимость корректировки ТЗ) и что выполнение проекта в полном объеме может потребовать значительного времени (поэтому индивидуальное задание может корректироваться заказчиком).
Опыт выполнения проектов по приведенным выше условиям показывает, что наибольшие трудности при этом представляет рассмотрение погрешностей и быстродействия (включая ЭВМ) систем.
Системотехническое проектирование ИИС должно опираться на материалы теоретических основ информационной и, особенно, информационно-измерительной техники. В настоящее время имеется литература, позволяющая получить знания, необходимые для теоретического рассмотрения широкого круга вопросов, возникающих при системотехническом проектировании ИИС [19.9—19.15].
В этом разделе книги, которая, по существу, вся посвящена системотехническому проектированию ИИС, решено привести в сжатом виде основные теоретические материалы справочно-реко-мендательного плана по оценкам, методам и средствам поверки точностных характеристик и быстродействию систем.
Г л а в а 20
ТОЧНОСТНЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СИСТЕМ
