4.6. Өңделген беттердiң сапа көрсеткiштерiн бағалау және оларды зерттеу тәсiлдерi

4.6.1. Беттер сапасының геометриялық көрсеткiштерiн

зерттеу тәсiлдерi

Өндiрiс жағдайында көбiне беттiң кедiр-бұдырлылығын зерттейдi. Қолданылатын бағалау тәсiлдерiн тiкелей және жанама өлшеу деп екiге бөледi.

Беттiң кедiр-бұдырлылығын тiкелей бағалау үшін сипалау /профилометрлер және профилографтар/ және оптикалық аспаптар пайдаланылады. Жанама бағалау үшiн эталондар мен интегралдық тәсiлдер қолданылады.

Профилометрлер тұрақты және қозғалмалы типпен шығады; бұлар кедiр-бұдырлылықты аралығында өлшей алады. Профилометрлердiң жұмыс iстеу негiзi, өңделген беттердi алмазды инемен тексеру арқылы жүргiзiледi. Иненiң дiрiл қозғалысы аспаптың электр жүйесiнде, кедiр-бұдырлылыққа тән, электр қозғаушы күшін /ЭҚК/ тудырады.

Өндiрiсте көп тараған индукциялық профилометрлер – “Калибр” зауытының 201,253 модельдерi; Филипс, Тейлор-Гобсон, Браш фирмаларының аспаптары.

Профилометрдiң межелігінде кедiр-бұдырлылықтың бағасы және /бет профилiнiң орта сызығы, микрокедiр биiктiгiнiң орта квадраты ауытқуы/ парамертлерiмен берiледi.

Беттiң микропрофильдерiн профилограмма ретiнде жазып алу үшiн профилографтар қолданылады. Өлшеу мүмкіндiгi аралығында. Профилограмманы өңдегеннен кейiн және мәндерiн де есептен алуға болады. Профилографтар зертханалық зерттеулерде пайдаланылады да, цехтық зерттеуге онша жарамайды.

Бұған қоса оптикалық-механикалық профилогтар болады. Бұларда профилограмма жарық сәулелерi арқылы фотопленкаға немесе ұшы арқылы өзi жазатын аспаптың қағаз таспасына жазылады.

Қос микроскоптың ПСС-2 және МИС-11 деген модельдерi беттiң кедiр-бұдырлылығын мкм аралығындағы мөлшерiн өлшейдi.

Бұл аспаптарда кедiр-бұдыр бетке өзiндiк бiр бұрыш бағыты бар жарық сәулелерiн жiбередi. Беттiң кедiр-бұдырын окулярлы микрометрмен өлшеуге немесе суретке түсiрiп алуға болады. Профилограмманы ауыстырмалы объективтер арқылы 517 есе үлкейтедi. Бұл аспаптарда кедiр-бұдырды параметрiмен өлшейдi.

Тәсiлдiң бiр кемiстiгi – екi жұмыстылығында. Алғашында кедiр-бұдырлылықтың мәнiн өлшеп, содан кейiн оны есептеу керек. ПСС-2 микроскобын зертханалық зерттеуде қолданады.

МИИ-4 микроинтерферометрiн беттiң кедiр-бұдырлылығын аралығындағысын өлшеу үшін қолданады. Беттiң кедiр-бұдыр учаскесiне интерференциялық алаптар жiберiледi. Олар беттiң күйiне қарай өз биiктiгiн өзгертедi. Интерференциялық алаптар биiктiгiн окулярлы микрометрмен 490 есе, ал суретке түсiргенде 290 есе үлкейтiп алуға болады. Бұл тәсiлдi зертханалық зерттеулерде және өндiрiсте өте дәл бөлшектерді тексергенде қолданады.

Кедiр-бұдырлылықты бағалаудың ең оңай жолы – оны аттестациядан өткен эталондармен салыстыру. Эталонның материалы тексеретiн бөлшек материалымен бiрдей болуы керек. Өйткенi әрбiр материалдың жалтырау қасиетi әр түрлi болады да, көз мөлшермен бағалау сәтiнде қателiкке ұшырауы ықтимал. Оның үстiне, эталонды жасау технологиясы бөлшекті жасау технологиясымен бiрдей болғаны жөн.

Әрине, эталон арқылы көз мөлшермен бағалау субъективтi. Кедiр-бұдырлылығы өте аз бөлшектерді өңдегенде қозғалмалы және тұрақты салыстырма микроскоптарды пайдаланған абзал. Оларда тексеретiн бет пен эталонның профилi бiр окулярда 10­50 есе үлкейтiлiп көрсетiлген. Беттiң кедiр­бұдырын жанама әдiспен бағалауда тексеретiн беттiң микропрофилi мен пневматикалық өлшеу мүштiгiнiң арасындағы саңылаудан өтiп жатқан ауаның шығыны арқылы табылатын, интегралдық тәсiлдер қолданылады. Бұл пневматикалық аспаптарды өлшеу күйiне келтiру үшiн эталондық бөлшектер пайдаланылады.

Технологияда бұдан басқа да жанама әдiстер кездеседi. Мысалы, конденсатордың электр сыйымдылығын өлшеу арқылы; тексерiлетiн бетке белгiлi күшпен тақап қойылған графиттi таяқтың тозуы арқылы; бөлшектің тексеретiн бетiне түсiп, одан шағылысқан жарық мөлшерi арқылы, т.б.

Өте көлемдi базалық ұзындықта беттiң кедiр-бұдырын профилографпен сипалау арқылы зерттеуге болады.

Бөлшектер пiшiндерiнiң ауытқуын және кедiр-бұдырын “Калибр” зауытының және Тейлор-Гопсон фирмасының аспаптарымен бағалайды. Жазу үдерісiн полярлы координатасы 50­10000 есе үлкейтiлген түрде жүргiзiледi.